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公开(公告)号：CN104216088B
公开(公告)日：2016-08-17
申请号：CN201410231013.X
申请日：2014-05-28
Applicant: 阿尔卑斯电气株式会社
IPC: G02B7/02
Abstract: 本发明的目的在于提供一种带镜筒的光学元件及其制造方法，其镜筒与光学元件的气密接合优良，并且光组件的气密密封优异。带镜筒的光学元件(1)具有金属制的镜筒(2)及与镜筒(2)的内周面(3)气密接合的光学元件(4)，含有铁、钴、镍及铜中的至少一种元素的金属氧化层(5)形成在镜筒(2)的表面，与光学元件(4)抵接的表面的区域为镜筒接合面(3a)，在镜筒接合面(3a)上形成的金属氧化层(5)的厚度比在镜筒(2)的除镜筒接合面(3a)以外的表面上形成的金属氧化层(5)的厚度厚。
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公开(公告)号：CN1228765C
公开(公告)日：2005-11-23
申请号：CN02158816.3
申请日：2002-12-25
Applicant: 阿尔卑斯电气株式会社
CPC classification number: B82Y10/00 , G11B5/6005 , H05K1/0254
Abstract: 一种通过导电树脂导通滑块与悬臂的磁头，在把具有记录和/或再生用薄膜元件(4)的滑块(1)与具有可以弹性变形的舌片(6b)的悬臂(6)接合的同时，通过导电树脂膜(11)导通滑块(1)与所述悬臂(6)，导电树脂膜(11)由从碳颗粒、碳纳米管、金属纳米细粉末中选择出的1种以上的导电材料、树脂类粘结剂、金属类导电性充填物构成，并设定导电树脂膜(11)的导通起始电压小于1.0V。
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公开(公告)号：CN1208756C
公开(公告)日：2005-06-29
申请号：CN02122206.1
申请日：1999-02-26
Applicant: 阿尔卑斯电气株式会社
Abstract: 本发明涉及一种磁头的检查方法和检查装置，该磁头具有薄膜元件，并且设有与上述薄膜元件连接的引线，该检查方法由下列几个工序组成：将设在一个基座上的座接地的工序；将设在上述座上的端子从DCR检测装置上断开的工序；在将上述磁头固定在上述基座上的同时，将从磁头延伸出来的引线检测部分和上述端子连接的工序；在经过规定的时间后，将该座与地面分离的工序；和将上述端子与DCR检测装置连接，进行薄膜元件的设计特性(DCR)测定的工序。该检查方法和检查装置在测定MR头的直流电阻时、或在切断挠性印刷基板或引线时，不会烧毁MR头。
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公开(公告)号：CN1204544C
公开(公告)日：2005-06-01
申请号：CN99100777.8
申请日：1999-02-26
Applicant: 阿尔卑斯电气株式会社
IPC: G11B5/39
Abstract: 本发明涉及一种薄膜磁头的制造方法和制造装置，可防止由静电引起的薄膜元件的破损。薄膜磁头装置将装有薄膜元件的滑块安装在弹性支承构件上，并设有与薄膜元件导通的导电引线，和覆盖导电引线的绝缘体构成的配线材料。薄膜磁头的制造方法包括如下工序：使配线材料的导电引线与固定在夹具上的滑块的薄膜元件连接的工序，将弹性支承构件与滑块接合的工序，将配线材料的基体端部上形成的台阶部分固定在夹具上的工序，和通过在配线材料的台阶部分检测薄膜元件的磁特性的工序中，将形成夹具的台阶部分的那一部分和/或固定滑块的部分，设置或固定在由表面电阻在1×106欧姆/平方以上、1×1012欧姆/平方以下的半导电性材料制成的区域中。
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公开(公告)号：CN1389856A
公开(公告)日：2003-01-08
申请号：CN02122206.1
申请日：1999-02-26
Applicant: 阿尔卑斯电气株式会社
Abstract: 本发明涉及一种磁头的检查方法和检查装置,该磁头具有薄膜元件,并且设有与上述薄膜元件连接的引线,该检查方法由下列几个工序组成:将设在一个基座上的座接地的工序;将设在上述座上的端子从DCR检测装置上断开的工序;在将上述磁头固定在上述基座上的同时,将从磁头延伸出来的引线检测部分和上述端子连接的工序;在经过规定的时间后,将该座与地面分离的工序;和将上述端子与DCR检测装置连接,进行薄膜元件的设计特性(DCR)测定的工序。该检查方法和检查装置在测定MR头的直流电阻时、或在切断挠性印刷基板或引线时,不会烧毁MR头。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1176398C
公开(公告)日：2004-11-17
申请号：CN02101707.7
申请日：2002-01-14
Applicant: 阿尔卑斯电气株式会社
IPC: G02F1/136
Abstract: 一种液晶显示装置，隔着液晶层(45)相对配置，并且在所述液晶层(45)一侧的面上至少具有给定结构的电极(7、7)的一对衬底(1、31)中，在第一衬底(1)上，设置至少覆盖显示区域(3)的导电性反射膜(2)；在所述第一衬底(1)中，把所述反射膜(2)的面积S1与所述电极(7)中与所述反射膜(2)不重叠的部分的面积S2的比率S2/S1设置在0.001以下。
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公开(公告)号：CN1430206A
公开(公告)日：2003-07-16
申请号：CN02158816.3
申请日：2002-12-25
Applicant: 阿尔卑斯电气株式会社
CPC classification number: B82Y10/00 , G11B5/6005 , H05K1/0254
Abstract: 一种通过导电树脂导通滑块与悬臂的磁头，在把具有记录和/或再生用薄膜元件(4)的滑块(1)与具有可以弹性变形的舌片(6b)的悬臂(6)接合的同时，通过导电树脂膜(11)导通滑块(1)与所述悬臂(6)，导电树脂膜(11)由从碳颗粒、碳纳米管、金属纳米细粉末中选择出的1种以上的导电材料、树脂类粘结剂、金属类导电性充填物构成，并设定导电树脂膜(11)的导通起始电压小于1.0V。
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公开(公告)号：CN1295252A
公开(公告)日：2001-05-16
申请号：CN00130257.4
申请日：2000-11-02
Applicant: 阿尔卑斯电气株式会社
Inventor： 川田贞夫
IPC: G01R1/067
Abstract: 本发明目的在于提供一种电特性测定装置,其可正确地测定作为被测定物的电子器件的电特性。由高电阻形成的第2接点部4与被测定物以导通方式连接,之后由良导电体形成的第1接点部3a与被测定物以导通方式连接。
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公开(公告)号：CN104216088A
公开(公告)日：2014-12-17
申请号：CN201410231013.X
申请日：2014-05-28
Applicant: 阿尔卑斯电气株式会社
IPC: G02B7/02
Abstract: 本发明的目的在于提供一种带镜筒的光学元件及其制造方法，其镜筒与光学元件的气密接合优良，并且光组件的气密密封优异。带镜筒的光学元件(1)具有金属制的镜筒(2)及与镜筒(2)的内周面(3)气密接合的光学元件(4)，含有铁、钴、镍及铜中的至少一种元素的金属氧化层(5)形成在镜筒(2)的表面，与光学元件(4)抵接的表面的区域为镜筒接合面(3a)，在镜筒接合面(3a)上形成的金属氧化层(5)的厚度比在镜筒(2)的除镜筒接合面(3a)以外的表面上形成的金属氧化层(5)的厚度厚。
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公开(公告)号：CN1260574C
公开(公告)日：2006-06-21
申请号：CN200410033467.2
申请日：2004-04-08
Applicant: 阿尔卑斯电气株式会社
Inventor： 川田贞夫
IPC: G01R19/10
CPC classification number: G01R29/12
Abstract: 本发明提供根据离子发生器所中和的对象被测定物的表面电荷来推测该被测定物上产生的电位差Vh的带电电位的评价方法及评价装置，其使用以下式1将CPM(3)的电位差VC的测定值换算成HGA的导电图案及载梁间的电位差Vh。[式1]这里，dh表示所述HGA的导电图案及载梁间的距离，dc表示CPM(3)的导电板和所述接地面之间的距离，εh表示所述HGA的绝缘衬底层的介电常数，εc表示CPM(3)的导电板和接地面之间的介电常数。
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