公开(公告)号：CN101515214A

公开(公告)日：2009-08-26

申请号：CN200910008204.9

申请日：2009-02-19

Applicant: 阿尔卑斯电气株式会社

Inventor： 岸野真悟 ,  近道孝 ,  志贺贞一

IPC: G06F3/041 ,  G06F3/044

CPC classification number: G06F3/0416 ,  G06F3/0414 ,  G06F3/044 ,  G06F3/045

Abstract: 本发明提供一种减少构成检测部的层数来降低制造成本而且压敏式检测部上面的层容易变形的输入装置。在压敏式检测部(20)的上面重叠设置根据电容变化来检测手指接触位置的静电容量式检测部(30)，上述压敏式检测部(20)具有形成在下部基材薄板(21)上的下侧检测层(25)和形成在上部基材薄板(22)上的上侧检测层(27)。因为在压敏式检测部(20)和静电电容式检测部(30)之间没有设置金属屏蔽层，所以可减少压敏式检测部(20)上面的层数，而且可使上面的层容易变形。因为设定成给压敏式检测部(20)通电和给静电容量式检测部(30)通电的时间不重复，所以可防止两个检测部的检测工作互相干涉。

公开(公告)号：CN101515214B

公开(公告)日：2011-10-05

申请号：CN200910008204.9

申请日：2009-02-19

Applicant: 阿尔卑斯电气株式会社

Inventor： 岸野真悟 ,  近道孝 ,  志贺贞一

IPC: G06F3/041 ,  G06F3/044

CPC classification number: G06F3/0416 ,  G06F3/0414 ,  G06F3/044 ,  G06F3/045

Abstract: 本发明提供一种减少构成检测部的层数来降低制造成本而且压敏式检测部上面的层容易变形的输入装置。在压敏式检测部(20)的上面重叠设置根据电容变化来检测手指接触位置的静电容量式检测部(30)，上述压敏式检测部(20)具有形成在下部基材薄板(21)上的下侧检测层(25)和形成在上部基材薄板(22)上的上侧检测层(27)。因为在压敏式检测部(20)和静电电容式检测部(30)之间没有设置金属屏蔽层，所以可减少压敏式检测部(20)上面的层数，而且可使上面的层容易变形。因为设定成给压敏式检测部(20)通电和给静电容量式检测部(30)通电的时间不重复，所以可防止两个检测部的检测工作互相干涉。