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公开(公告)号：CN118932481A
公开(公告)日：2024-11-12
申请号：CN202410989055.3
申请日：2024-07-23
Applicant: 长飞光纤光缆股份有限公司
Abstract: 本发明公开了一种抑制SiC背部升华的籽晶粘接工艺，包括在籽晶背面和石墨烯膜的第一面通过旋涂法涂敷粘接胶水，随后将胶膜烘干；进行第一次真空热压处理；在圆片式籽晶托和所述石墨烯膜的第二面通过旋涂法涂敷粘接胶水，随后将胶膜烘干；进行第二次真空热压处理，在籽晶和籽晶托之间形成碳化膜/石墨烯膜/碳化膜多层复合材料，得到SiC籽晶粘结片；使用尺寸匹配的石墨环封装所述SiC籽晶粘结片，完成粘结工艺；本发明通过热压处理在籽晶和籽晶托之间形成碳化膜/石墨烯膜/碳化膜多层复合材料，再配合石墨环的封装处理，解决了SiC生长背部升华问题，籽晶粘接的成功率以及SiC晶体品质均得到提升。
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公开(公告)号：CN109020186A
公开(公告)日：2018-12-18
申请号：CN201810992598.5
申请日：2018-08-29
Applicant: 长飞光纤光缆股份有限公司
IPC: C03B37/018
CPC classification number: C03B37/014 , C03B2207/64 , C03B2207/66
Abstract: 本发明涉及一种OVD制造光纤预制棒的装置及方法，包括有沉积腔体，沉积腔体的顶部和下部对应安设上、下同步旋转卡盘，用于夹持待外喷的芯棒，沉积腔体一侧对应上、下同步旋转卡盘竖直设置等距间隔的喷灯组，喷灯组与上下移动滑座相连，在沉积腔体的另一侧对应喷灯组设有抽风口，其特征在于腔体外侧安装有激光测径仪，激光测径仪的输出端与PLC相连，PLC的控制端与卡盘旋转控制系统相连，构成粉棒外径与旋转卡盘转速的实时反馈调控，使得整个沉积过程中粉棒沉积表面与火焰中心落点的交点处线速度保持恒定。本发明能提高粉棒的整体均匀性与收集率，提高了OVD粉棒制造效率和质量；反馈装置简单可靠，易于实现，稳定性强，适合规模化生产。
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公开(公告)号：CN106830664A
公开(公告)日：2017-06-13
申请号：CN201710096126.7
申请日：2017-02-22
Applicant: 长飞光纤光缆股份有限公司
IPC: C03B37/018
CPC classification number: C03B37/01815
Abstract: 本发明公开了一种用于制备光纤母材的喷灯，包括有喷灯体，喷灯体沿轴向设置喷射孔，喷灯体的前端安设有喷射罩，其特征在于在喷灯体和喷射罩之间安设有大端朝后的锥形导流座，锥形导流座设置有与喷射罩空腔相连通的导流孔。本发明通过在喷灯体前端设置锥形导流座和导流孔，能使喷灯喷射的燃气气流更加稳定，减少因抽风波动使喷灯火焰晃动而沉积异常的几率及燃烧气流紊流造成的喷灯结晶现象，维持水解产物一定的浓度不至快速扩散，提高收集率和沉积浓度，从而获得稳定的生长状态以及高质量沉积粉棒。同时，导流孔的设置也保证了端头高温火焰沉积时火焰的洁净度，可提高管外法的沉积精度。本发明结构设置简单合理，不仅便于更换而且结构稳定。
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公开(公告)号：CN119913619A
公开(公告)日：2025-05-02
申请号：CN202510109878.7
申请日：2025-01-23
Applicant: 长飞光纤光缆股份有限公司
Abstract: 本发明一种PVT法生长SiC的流场控制方法，将圆柱形石墨坩埚与多孔石墨筒同轴放置，多孔石墨筒将石墨坩埚内的空间隔离成中心区域和环形区域；将高堆积密度的碳化硅粉料装填在所述环形区域，将低堆积密度的碳化硅粉料装填在中心区域；在环形区域的碳化硅粉料上方加盖等静压石墨环，在中心区域的碳化硅粉料上方加盖多孔石墨片；本发明通过高堆积密度粉料具有低的孔隙率，而低堆积密度粉料具有高的孔隙率，使得SiC蒸汽优先在粉料中心向上传输，同时粉料中的石墨导流构件对引导气流传输起到重要作用，侧边产生的SiC蒸汽通过多孔石墨筒向中心汇聚，促进中心向上传质有效地降低碳包裹物，有利于晶体以台阶流方式生长，从而提高了晶体的质量。
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公开(公告)号：CN119392372A
公开(公告)日：2025-02-07
申请号：CN202411521090.9
申请日：2024-10-29
Applicant: 长飞光纤光缆股份有限公司
Abstract: 本发明属于碳化硅单晶材料领域，具体公开了一种碳化硅籽晶的预处理方法、产品以及应用，其包括S1：清洁碳化硅籽晶的硅面，S2：制备复合单元层，具体为，先将正性光刻胶涂覆在步骤S1获得的洁净硅面上，执行烘干，获得正性光刻胶层，接着，在正性光刻胶层上制备石墨涂层，形成正形光刻胶和石墨层层叠而成的复合单元层，S4：对硅面形成有复合单元层的籽晶加热，使复合单元层完全固化和致密化，获得预制籽晶，S5：清洁预制籽晶的碳面，完成预处理。本发明还提供按照以上方法预处理的碳化硅籽晶以及采用该预处理籽晶进行碳化硅生长的方法。本发明有效解决了因籽晶粘接带来的应力问题，能用来代替传统的籽晶粘接工艺。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN118929625A
公开(公告)日：2024-11-12
申请号：CN202410989056.8
申请日：2024-07-23
Applicant: 长飞光纤光缆股份有限公司
IPC: C01B32/05
Abstract: 本发明公开了一种用于碳化硅长晶的高孔隙率泡沫碳的制备方法，将合成海绵清洗干净，并低温烘干；采用合成海绵的孔隙率为90％以上，孔径为在10ppi～100ppi之间；将烘干的合成海绵浸渍在碳前驱体溶液中，待完全浸透后捞出并烘干固化得到泡沫碳前驱体；所述碳前驱体溶液为有机树脂的溶液，树脂采用酚醛树脂、糠醛树脂、苯并噁嗪中的一种或任意组合；将泡沫碳前驱体放入高温炉内升温碳化，得到高孔隙率泡沫碳；本发明所制备高孔隙率泡沫碳不仅具有80％以上、几乎全部通孔的孔隙率，同时也具有较好的材料力学强度，使用时不容易发生弯折、破损，可以有效替代多孔石墨，并拓展其应用范围。
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公开(公告)号：CN111537021A
公开(公告)日：2020-08-14
申请号：CN202010339159.1
申请日：2020-04-26
Applicant: 长飞光纤光缆股份有限公司
IPC: G01D21/02
Abstract: 本发明公开了一种玻璃壁管测量装置，包括底座、行走支架组件、旋转装置、外径测试仪和壁厚测试仪，底座上设有导轨，行走支架组件包括两个沿同一直线布置的置棒架，置棒架设置于导轨上，可沿导轨来回移动，旋转装置、外径测试仪和壁厚测试仪的探头均设置于导轨上，两个置棒架用于放置玻璃管，旋转装置用于带动玻璃管自转，外径测试仪和壁厚测试仪分别用于测试玻璃管的外径和壁厚。本装置实现玻璃管的自动检测棒外径、壁厚、外观缺陷和圆跳动，大大提高测试精度，提高测试效率。
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公开(公告)号：CN111443061A
公开(公告)日：2020-07-24
申请号：CN202010027983.3
申请日：2020-01-10
Applicant: 长飞光纤光缆股份有限公司
Abstract: 本发明涉及一种光纤预制棒自动检测设备，包括支撑台架，支撑台架上面安设有测试光路模块，测试光路模块的中间安设测试油桶，测试油桶向下延伸至支撑台架下方，测试油桶中盛装有测试油液，并对应测试光路模块设置透明测试窗口，其特征在于在预制棒检测设备的后侧配置竖直塔架，竖直塔架的前面设置有竖直导轨，竖直导轨上对应预制棒检测设备安设竖直滑座，竖直滑座与升降驱动机构相连，竖直滑座上设置旋转夹紧卡盘，用以垂直夹持光纤预制棒上下移动和旋转。本发明能够完成对光纤预制棒自动测试和夹持装卸的任务，使用操作方便，作业效率高，充分满足大尺寸、规模化、自动化、高效、安全的光纤制造生产的需求。
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公开(公告)号：CN111268900A
公开(公告)日：2020-06-12
申请号：CN202010027152.6
申请日：2020-01-10
Applicant: 长飞光纤光缆股份有限公司
IPC: C03B37/012 , C03B37/025
Abstract: 本发明涉及一种中空式自动旋转夹紧卡盘，其特征在于包括基座、中空转轴和与中空转轴相联的夹紧卡盘，所述的中空转轴通过轴承安设在基座的前端，并通过传动装置与旋转驱动机构相连，在中空转轴的下端连接夹紧卡盘，所述的夹紧卡盘为自动夹紧卡盘。本发明能够完成对光纤预制棒自动夹持和松卸的任务，使用操作方便，作业效率高；本发明结构设置合理紧凑，自动化程度高，装夹的松紧度恒定，安全性好，夹持的可靠性强；可以夹持各种不同直径的光纤预制棒，尤其是能够用来夹持直径为120毫米以上的大尺寸光纤预制棒，充分满足大尺寸、规模化、自动化、高效、安全的光纤制造生产的需求。
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公开(公告)号：CN109307586B
公开(公告)日：2020-02-18
申请号：CN201811299892.4
申请日：2018-11-02
Applicant: 长飞光纤光缆股份有限公司
IPC: G01M11/00
Abstract: 本发明涉及一种光纤预制棒测量装置的校准方法，将扫描激光光源和光电位置探测器平行间隔一端距离相对定位，开启扫描激光光源和光电位置探测器，扫描激光光源和光电位置探测器沿平行间隔方向相对移动，使得的激光束从光电位置探测器的一侧边界处沿水平面对光电位置探测器的探测面进行扫描，扫描至光电位置探测器探测面的另一侧边界处结束，分别记录相对位移总长度和光电位置探测器位置传感信号，通过将相对位移量与位置传感信号进行比对，计算出光电位置探测器的响应线性度，最后获得一条准确的位移响应线性度或位置响应坐标曲线。本发明解决了因光电位置探测器响应线性度变化而影响系统测试精度的问题，同时增大光电位置探测器的测量长度。
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