-
公开(公告)号：CN118031854A
公开(公告)日：2024-05-14
申请号：CN202410191164.0
申请日：2024-02-21
Applicant: 长安大学
IPC: G01B11/30
Abstract: 本发明公开了一种基于Bin‑sfm摄影测量技术的岩石结构面粗糙度自动提取方法，属于岩土工程技术领域，包括以下步骤：S1：基于拍摄参数自动选取算法，从不同角度均匀拍摄的原则对目标岩石的照片进行采集，得到不同相机位姿的目标岩石图像；S2：基于Bin‑SFM的拍摄方法进行拍摄；S3：采用Bin‑SFM算法求解相机位姿、稀疏点云和密集点云S4：基于所述目标岩石表面的点云，计算所述目标岩石结构面的粗糙度系数。本发明使用推荐的最佳拍摄参数组合，提高了摄影测量岩石结构面粗糙度的测量精度。
Search Results
1
records
(took 0.017 seconds)
筛选
AND
AND
过滤
NOT
NOT
Scan to Join
