一种钢中不同类型夹杂物面积及含量的定量表征方法

    公开(公告)号:CN109030462B

    公开(公告)日:2024-11-26

    申请号:CN201810952853.3

    申请日:2018-08-21

    Abstract: 本发明属于材料科学中表面微区分析技术领域,涉及一种钢中不同类型夹杂物面积及含量的定量表征方法。该方法利用激光诱导击穿光谱技术,通过对不同类型夹杂物特征元素激光光谱信号进行研究,建立夹杂光谱信号鉴别规则,实现了同时对不同类型夹杂物面积和含量的表征。本发明用于解决传统方法对钢中夹杂物不能快速、原位地进行面积和定量同时表征的问题,以及一些快速测量方法只能针对特定类型夹杂物而对不同类型夹杂物不能进行同时表征的问题,适用于钢中不同类型夹杂物的面积及定量的同时表征。本发明不必增加任何装置,不增加分析成本;特别适用于现代冶金快速、原位的分析需求。

    大尺度样品全域成分全自动扫查定位和定量分析系统

    公开(公告)号:CN110018153B

    公开(公告)日:2021-11-02

    申请号:CN201910330690.X

    申请日:2019-04-23

    Abstract: 本发明涉及一种大尺度样品全域成分全自动扫查定位和定量分析系统,属于材料表面表征技术领域,包括:高精度数控工作台系统、显微照相矩阵系统、GPU工作站群组、激光光谱仪、网络交换机与终端服务器;采用显微照相矩阵系统和GPU工作站群组,控制高精度数控工作台系统,对样品表面进行多群组显微拍照及图像数据处理,实现材料表面微观组织结构和夹杂物的识别、定位;采用激光诱导击穿光谱(LIBS)分析技术,对标定夹杂物进行制导分析,实现对夹杂物组成的表征。本发明提出的全自动跨尺度金相激光光谱原位分析系统创新性地将金相显微技术与LIBS分析技术结合,解决了跨尺度材料表面全域微观组织结构和夹杂物的识别、定位及组成的关键问题。

    大尺度样品全域成分全自动扫查定位和定量分析系统

    公开(公告)号:CN110018153A

    公开(公告)日:2019-07-16

    申请号:CN201910330690.X

    申请日:2019-04-23

    Abstract: 本发明涉及一种大尺度样品全域成分全自动扫查定位和定量分析系统,属于材料表面表征技术领域,包括:高精度数控工作台系统、显微照相矩阵系统、GPU工作站群组、激光光谱仪、网络交换机与终端服务器;采用显微照相矩阵系统和GPU工作站群组,控制高精度数控工作台系统,对样品表面进行多群组显微拍照及图像数据处理,实现材料表面微观组织结构和夹杂物的识别、定位;采用激光诱导击穿光谱(LIBS)分析技术,对标定夹杂物进行制导分析,实现对夹杂物组成的表征。本发明提出的全自动跨尺度金相激光光谱原位分析系统创新性地将金相显微技术与LIBS分析技术结合,解决了跨尺度材料表面全域微观组织结构和夹杂物的识别、定位及组成的关键问题。

    一种钢中不同类型夹杂物面积及含量的定量表征方法

    公开(公告)号:CN109030462A

    公开(公告)日:2018-12-18

    申请号:CN201810952853.3

    申请日:2018-08-21

    CPC classification number: G01N21/718

    Abstract: 本发明属于材料科学中表面微区分析技术领域,涉及一种钢中不同类型夹杂物面积及含量的定量表征方法。该方法利用激光诱导击穿光谱技术,通过对不同类型夹杂物特征元素激光光谱信号进行研究,建立夹杂光谱信号鉴别规则,实现了同时对不同类型夹杂物面积和含量的表征。本发明用于解决传统方法对钢中夹杂物不能快速、原位地进行面积和定量同时表征的问题,以及一些快速测量方法只能针对特定类型夹杂物而对不同类型夹杂物不能进行同时表征的问题,适用于钢中不同类型夹杂物的面积及定量的同时表征。本发明不必增加任何装置,不增加分析成本;特别适用于现代冶金快速、原位的分析需求。

    基于显微照相矩阵的跨尺度夹杂物快速分析仪器及方法

    公开(公告)号:CN109470698B

    公开(公告)日:2020-02-14

    申请号:CN201811131502.2

    申请日:2018-09-27

    Abstract: 本发明涉及一种基于显微照相矩阵的跨尺度全自动夹杂物快速分析仪器及方法。该分析仪器包括显微照相矩阵系统、高精密三维数控工作台、计算工作群以及控制和数据处理系统;待测样品为大尺寸金属构件,显微照相矩阵系统可上下移动地固定在高精密三维数控工作台的Z轴上,计算工作群通过控制和数据处理系统控制高精密三维数控工作台的位移,逐步移动待测样品的位置,使得显微照相矩阵系统遍历所有待测样品的待测表面,实现对待测样品的全尺度显微照相,进行夹杂物搜索、面积计算、定位、形貌分级放大以及统计分布分析。本发明将显微照相矩阵和高速运算相结合,样品扫描尺寸大、精度高、速度快,显著提高大尺度样品夹杂物分析效率。

    基于显微照相矩阵的跨尺度夹杂物快速分析仪器及方法

    公开(公告)号:CN109470698A

    公开(公告)日:2019-03-15

    申请号:CN201811131502.2

    申请日:2018-09-27

    Abstract: 本发明涉及一种基于显微照相矩阵的跨尺度全自动夹杂物快速分析仪器及方法。该分析仪器包括显微照相矩阵系统、高精密三维数控工作台、计算工作群以及控制和数据处理系统;待测样品为大尺寸金属构件,显微照相矩阵系统可上下移动地固定在高精密三维数控工作台的Z轴上,计算工作群通过控制和数据处理系统控制高精密三维数控工作台的位移,逐步移动待测样品的位置,使得显微照相矩阵系统遍历所有待测样品的待测表面,实现对待测样品的全尺度显微照相,进行夹杂物搜索、面积计算、定位、形貌分级放大以及统计分布分析。本发明将显微照相矩阵和高速运算相结合,样品扫描尺寸大、精度高、速度快,显著提高大尺度样品夹杂物分析效率。

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