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公开(公告)号：CN107091730B
公开(公告)日：2024-04-16
申请号：CN201710451588.6
申请日：2017-06-08
Applicant: 金华职业技术学院
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明涉及光学测量领域，一种估算光电倍增管的绝对光响应率的装置，包括激光器、衰减器I、暗箱、分束器I、衰减器II、平面镜I、快门I、快门II、平面镜II、分束器II、暗盒、硅光电二极管、待测光电倍增管，所述分束器I、衰减器II、平面镜I、快门I、快门II、平面镜II、分束器II、暗盒、硅光电二极管、待测光电倍增管均位于暗箱内，所述硅光电二极管、待测光电倍增管位于暗盒内，依次由激光器、衰减器I、分束器I、快门I、平面镜II、分束器II和硅光电二极管组成光路I，依次由激光器、衰减器I、分束器I、衰减器II、平面镜I、快门II、分束器II和硅光电二极管组成光路II，所述衰减器I、衰减器II与测量系统的光轴均具有一定角度。
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公开(公告)号：CN109142059B
公开(公告)日：2024-01-30
申请号：CN201811083993.8
申请日：2018-09-06
Applicant: 金华职业技术学院
Abstract: 本发明涉及材料科学领域，一种薄膜样品的电学性质测量方法，将电晕探针切换到探头的探针位I；控制位移台将栅网移动至样品上方三毫米距离处，并通过电压源对其施加电压，所述电压典型值为50V；控制位移台将金属罩移动至栅网上方四毫米距离处，并通过直流电源对其施加电压，所述电压典型值为1.5kV至2.5kV；对样品充电：通过高压恒流源对电晕探针施加电流，电流典型值为二微安，测量方法包括测量样品表面的电势衰减的步骤、测量样品的电容的方法，采用可移动的电晕探针对薄膜充电，以进行相关电学测量，并采用施加电压的栅网使得到达薄膜表面的离子分布更均匀，充电过程快速且易控制，能够同时对薄膜进行相关力学特性的测量。
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公开(公告)号：CN109115607B
公开(公告)日：2024-01-30
申请号：CN201811083995.7
申请日：2018-09-06
Applicant: 金华职业技术学院
Abstract: 本发明涉及材料科学领域，一种薄膜样品的力学性质测量方法，将透镜探针切换到探头的探针位I；控制微驱动器使得透镜探针移动至刚好接触样品表面；显微镜物镜实时记录样品图像；法向力测量：控制微驱动器使得透镜探针继续向样品表面施加压力，记录反射镜I和反射镜II的偏向，通过计算机得到法向的相互作用力，并与显微镜物镜记录的样品图像进行组合分析，得到样品表面形变与法向作用力之间的关系；切向力测量：控制微驱动器以保持透镜探针与样品的法向力恒定，同时使样品台在z方向移动，记录反射镜I和反射镜II的偏向，通过计算机得到切向的相互作用力，并与显微镜物镜记录的样品图像进行组合分析，得到样品形变与法向力及样品台移动速度的关系。
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公开(公告)号：CN108987241B
公开(公告)日：2024-01-30
申请号：CN201810950833.2
申请日：2018-08-09
Applicant: 金华职业技术学院
Abstract: 本发明涉及光谱化学领域，一种分子光反应测试装置，包括液滴喷射器、真空腔、电离器、偏向器I、质量过滤器、探测器I、偏向器II、离子聚束器I、离子阱I、离子聚束器II、离子阱II、飞行时间质谱、透镜、光学快门、光学参量振荡器、示波器和真空泵组，所述离子阱II能够充入缓冲气脉冲，能够在短时间内增加离子阱II中的气压；液滴喷射器主要包括喷射器外壳、储液池、电极盘和脉冲发生器，储液池为开口的桶状且位于喷射器外壳中，电极盘与储液池的底部接触，电极盘电缆连接脉冲发生器；电极盘由一组电极环组成，每个电极环由一个压电陶瓷环和两个电极组成，将电极盘中心对称地等分成八个区域，能够单独控制施加在每个区域上的电极的电压。
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公开(公告)号：CN109580439B
公开(公告)日：2023-12-22
申请号：CN201811220629.1
申请日：2018-10-10
Applicant: 金华职业技术学院
IPC: G01N15/06
Abstract: 本发明涉及材料工程领域，一种微颗粒的超快光谱实验方法，微颗粒的超快光谱研究装置包括位移台I、旋转马达、旋转轴、磁铁、位移台II、样品腔、搅拌片、透镜I、分束器、激光器、滤光片、透镜II、小孔、透镜III、探测器和计算机，采用超快光谱方法来研究低浓度的微颗粒样品，采用特殊设计的样品腔及搅拌方法，使得样品腔中不同区域的样品有较快的交换速度以满足超快光谱实验的需要，并能够避免机械噪声进入光谱，也避免了激光在样品中的周期性的折射，提高了光谱数据的质量，采用荧光探测方法对旋转的样品腔中的微颗粒进行高精度的计数，无样品损耗，操作过程简便。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN108956664B
公开(公告)日：2023-11-10
申请号：CN201810683019.9
申请日：2018-06-16
Applicant: 金华职业技术学院
IPC: G01N23/20008
Abstract: 本发明涉及对材料的显微技术领域，一种高透射率的原子束显微装置，包括储气罐、气管、由腔体I和腔体II连接成的真空腔体、喷射头、分流器、气体透射窗片、原子衍射片、第一阶菲涅尔环带透射区域上的通孔、第二阶菲涅尔环带透射区域上的通孔、探测器I、样品、样品台、计算机、探测器II、抽气口I、真空泵组I、抽气口II、真空泵组II，探测器I和探测器II分别探测被样品表面反射的原子，并以差分对模式工作，本发明采用具有通孔的原子衍射片，原子衍射片易于加工，且通孔按照相应的菲涅尔区有序排列，增加了一定原子束流横截面积上的通孔总面积，提高了原子束流的透射率，能够得到锐利的聚焦束斑，并能够抑制更高阶的衍射，增加了装置的信噪比。
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公开(公告)号：CN106814056B
公开(公告)日：2023-09-19
申请号：CN201710141248.3
申请日：2017-03-01
Applicant: 金华职业技术学院
Abstract: 本发明涉及高分子材料加工领域，一种用于原位测量聚合物薄膜中溶剂蒸汽膨胀的方法，包括氮气罐、流量控制器、溶剂罐、混合室、样品腔体、石英晶体微天平、样品I、样品II、一系列流量控制器气流系统，将样品I、样品II平行放置在样品腔体中，样品I贴合于所述石英晶体微天平下面用于测量膨胀的程度，样品II置于所述样品腔底中心的透明玻璃上方用于落射荧光成像；通过所述一系列流量控制器气流系统将干燥的氮气通入溶剂储存罐以起泡的方式来产生溶剂蒸汽，然后通入所述样品腔体，同时控制溶剂蒸汽的气压，进而控制样品膨胀；溶剂蒸汽退火之前和进行中的膜厚，能够通过测量有薄膜存在时和无薄膜时所述石英晶体微天平的共振频率的差值得到。
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公开(公告)号：CN109030526B
公开(公告)日：2023-08-08
申请号：CN201810682991.4
申请日：2018-06-16
Applicant: 金华职业技术学院
IPC: G01N23/20008 , G01N23/207
Abstract: 本发明涉及对材料的显微技术领域，一种高分辨的表面测试方法，开启真空泵组对腔体抽真空，使得腔体I内真空优于10‑1Pa，腔体II内真空优于10‑2Pa；储气罐输出气体至喷射头，气体原子以自由射流形式进入腔体I，通过分流器后，以原子束流形式进入腔体II；原子束流依次通过气体透射窗片和原子衍射片后射到样品表面；样品台在2×2微米范围内平移，以使得样品表面能够被原子束直接照射；探测器I对原子量较小的原子探测效率较高，探测器II对原子量较大的原子探测效率较高，当储气罐中气体是氦气，开启探测器I，当储气罐中气体是氖气或氩气或氪气，开启探测器II；被样品表面反射的部分原子进入探测器，所得数据输入计算机；得到样品表面相关信息。
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公开(公告)号：CN107314887B
公开(公告)日：2023-07-28
申请号：CN201710451510.4
申请日：2017-06-08
Applicant: 金华职业技术学院
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明涉及光学测量领域，估算光电倍增管在低光强条件下的绝对光响应率的方法，硅光电二极管作为校准待测光电倍增管的绝对光功率的参照，在入射光功率为10‑6W到10‑11W下校准硅光电二极管的非线性，线性度其中硅光电二极管输出信号IA+B(k)的非线性度待测光电倍增管输出信号IC+D(k)的非线性度确定光电倍增管在入射光功率为10‑11W条件下的绝对响应率；估算在光功率为10‑16W时的绝对光响应率；得到所述待测光电倍增管在10‑11W到10‑16W范围的绝对光响应率。
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公开(公告)号：CN109613048A
公开(公告)日：2019-04-12
申请号：CN201811430958.9
申请日：2018-11-17
Applicant: 金华职业技术学院
Abstract: 本发明涉及材料研究领域，一种研究高压下样品相变的方法，研究高压下样品相变的装置包括激光器I、分束器I、反射镜I、反射镜II、蓝宝石顶砧、样品、棱镜、透镜I、激光器II、消相差透镜组、光圈、物镜、分束器II、滤波器、摄像机、斩波器、小孔光阑、透镜II、滤光片组和探测器，通过激光加热及光学图像分析的方法，采用不同的光路将加热激光及成像激光分别入射到样品，能够分别对样品的加热效率、反射光的收集效率进行优化，并采用消色差透镜组结合小孔光阑的方法来减小光路中的色差，提高探测器测得的热辐射谱的分辨率，样品温度测量准确度更高，通过两种方法对样品表面反射的散斑干涉图案进行定量分析，能够更精确地确定样品的融化温度。
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