公开(公告)号：CN111323079B

公开(公告)日：2022-05-06

申请号：CN202010143566.5

申请日：2020-03-04

Applicant: 金华职业技术学院

Inventor： 葛健芽 ,  张正中 ,  杨晓红 ,  常春涛 ,  贺爱娜 ,  王金生 ,  李文忠

IPC: G01D21/02 ,  G16C60/00 ,  C22C33/06

Abstract: 本发明涉及合金材料检测领域，提供一种非晶合金材料综合性能检测方法，步骤S1采用交流电弧熔炼和高频感应结合的方法制备不同组分的母合金材料；步骤S2采用单辊快淬法，将不同组分的母合金材料制备成系列尺寸的非晶合金薄带；步骤S3将系列尺寸的非晶合金薄带用不同温度和应力进行退火处理；步骤S4非晶合金薄带进行磁性能检测；步骤S5非晶合金薄带进行微结构、力学性能检测；步骤S6非晶合金薄带进行多形相变、张应力检测；步骤S7综合统计分析测试结果，输出非晶合金材料综合性能指标。该方法不仅指标全面，而且易于分析非晶合金材料各项性能。

公开(公告)号：CN111337524A

公开(公告)日：2020-06-26

申请号：CN202010143577.3

申请日：2020-03-04

Applicant: 金华职业技术学院

Inventor： 葛健芽 ,  张正中 ,  杨晓红 ,  常春涛 ,  贺爱娜 ,  王金生 ,  李文忠

IPC: G01N23/20 ,  G01N23/2251 ,  G01N23/2206 ,  G01N23/04 ,  G06K9/00

Abstract: 本发明涉及材料检测领域，提供一种张应力低温退火诱导非晶合金材料多形相变检测方法，该方法包括：调用拍摄装置获取非晶合金材料微结构图像；将非晶合金材料微结构图像输入到模型中，确定是否符合合格标准，其中，所述模型为使用多组数据通过机器学习训练得到，多组数据包括第一类数据和第二类数据，第一类数据中的每组数据包括非晶合金材料微结构图像和符合合格标准的标签，第二类数据中的每组数据包括非晶合金材料微结构图像和不符合合格标准的标签；在非晶合金材料微结构图像不符合合格标准，输出预警信号，并触发设备停止检测。通过本发明解决现有技术中非晶合金材料大量生产过程中检测过程繁杂、效率低且精度不高的问题。

公开(公告)号：CN111323079A

公开(公告)日：2020-06-23

申请号：CN202010143566.5

申请日：2020-03-04

Applicant: 金华职业技术学院

Inventor： 葛健芽 ,  张正中 ,  杨晓红 ,  常春涛 ,  贺爱娜 ,  王金生 ,  李文忠

IPC: G01D21/02 ,  G16C60/00 ,  C22C33/06

Abstract: 本发明涉及合金材料检测领域，提供一种非晶合金材料综合性能检测方法，步骤S1采用交流电弧熔炼和高频感应结合的方法制备不同组分的母合金材料；步骤S2采用单辊快淬法，将不同组分的母合金材料制备成系列尺寸的非晶合金薄带；步骤S3将系列尺寸的非晶合金薄带用不同温度和应力进行退火处理；步骤S4非晶合金薄带进行磁性能检测；步骤S5非晶合金薄带进行微结构、力学性能检测；步骤S6非晶合金薄带进行多形相变、张应力检测；步骤S7综合统计分析测试结果，输出非晶合金材料综合性能指标。该方法不仅指标全面，而且易于分析非晶合金材料各项性能。

公开(公告)号：CN212459446U

公开(公告)日：2021-02-02

申请号：CN202021074564.7

申请日：2020-06-11

Applicant: 金华职业技术学院

Inventor： 葛健芽 ,  杨晓红 ,  张正中 ,  常春涛 ,  贺爱娜 ,  王金生 ,  李文忠

IPC: G01N21/892 ,  G01B11/06

Abstract: 本实用新型涉及非晶合金领域，提供一种铁基非晶合金薄膜裂纹检测装置，该铁基非晶合金薄膜裂纹检测装置包括测量组件，所述测量组件包括第一支撑杆、第一横杠、第二横杠、齿轮组件、齿带，第一测距传感器、第二测距传感器，所述第一横杠、所述第二横杠与所述第一支撑杆连接，所述第一横杠、所述第二横杠能够沿所述第一支撑杆垂直方向移动，由齿轮组件带动齿带运动，从而使得所述第一测距传感器、所述第二测距传感器能够在待测薄膜的垂直上方和垂直下方测量间距，再通过计算即可得到薄膜的厚度变化，进而能够在自动生产线不停止或中断的前提下，测量铁基非晶合金薄膜样本的裂纹情况，检测效率高。

公开(公告)号：CN212254806U

公开(公告)日：2020-12-29

申请号：CN202021074631.5

申请日：2020-06-11

Applicant: 金华职业技术学院

Inventor： 葛健芽 ,  张正中 ,  杨晓红 ,  常春涛 ,  贺爱娜 ,  王金生 ,  李文忠

IPC: G01N1/28

Abstract: 本实用新型涉及非晶合金领域，提供一种非晶合金薄膜裂纹试样预制装置，该所述非晶合金薄膜裂纹试样预制装置包括升降杆、底座、横杠、压制模块、支撑台，所述升降杆的一端与所述底座固定连接，所述升降杆沿着轴向方向设置有滑动凹槽，所述滑动凹槽内设置有丝杆组件，所述横杠一端与所述丝杆组件固定设置，所述横杠一端能够沿所述升降杆轴线方向移动，所述横杠另一端与所述压制模块固定连接；所述支撑台上端面设置有凸缘，所述凸缘与所述压制模块设置有待预制薄膜，所述凸缘的刃部与所述压制模块能够接触。该装置不仅结构简单，而且能够快速加工出带有薄膜裂纹的非晶合金薄膜试样。