电子控制单元升级测试方法、系统、电子设备及存储介质

    公开(公告)号:CN115221069A

    公开(公告)日:2022-10-21

    申请号:CN202210908595.5

    申请日:2022-07-29

    Abstract: 本发明涉及系统升级技术领域,公开了一种电子控制单元升级测试方法、系统、电子设备及存储介质,该方法通过待测升级包对待测试单元中的备份分区系统进行系统升级,根据待测升级包对应的单元升级流程生成当前升级进度,并对升级错误信息解析得到错误原因,根据待测试单元、当前系统版本、目标系统版本、单元升级流程、单元升级进度、错误原因生成待测试单元对应的测试数据,在升级前获取待测试单元、当前系统版本、目标系统版本、单元升级流程,在升级时采集单元升级进度、错误原因,进而生成测试数据,便于测试人员获取测试数据,进而对测试数据进行查看和分析,提高测试效率。

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