上下电的系统测试方法及装置、设备、存储介质

    公开(公告)号:CN117452094A

    公开(公告)日:2024-01-26

    申请号:CN202311265843.X

    申请日:2023-09-27

    Inventor: 何熙 梁逻

    Abstract: 本申请实施例提供了一种上下电的系统测试方法及装置、设备、存储介质,其中,方法包括:获取预设位置的距离和路线;预设位置包括多个子预设位置;根据预设位置的距离和路线,控制第一模块移动到目标位置;目标位置表征多个子预设位置中的任意一个;在目标位置上,通过第一模块进行上下电的系统测试。上述方案中,第一模块可以在上下电的系统测试设备的控制下,根据预设位置的距离和路线进行移动,由于第一模块移动的是自动的,而非人工移动,可以提高上下电的系统测试的效率。

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