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公开(公告)号：CN116152169A
公开(公告)日：2023-05-23
申请号：CN202211607983.6
申请日：2022-12-14
Applicant: 重庆邮电大学
IPC: G06T7/00 , G06N3/08 , G06T7/13 , G06N3/0464
Abstract: 本发明涉及一种基于改进YOLOv5s模型的印刷电路板缺陷检测方法，属于印刷电路板缺陷检测领域。该方法包括：获取选择印刷电路板缺陷数据集；改进YOLOv5s网络结构的Backbone部分，在中小目标特征提取层嵌入CA注意力机制；改进YOLOv5s网络结构的Neck部分，在特征融合层嵌入CBAM卷积注意力机制；使用Alpha‑CIOU损失函数代替原始YOLOv5s模型的CIOU损失函数；S3：对改进后的YOLOv5s网络模型进行训练；S4：随机选择缺陷数据集中的缺陷图片，使用训练好的网络模型进行检测，输出待检测缺陷目标的位置信息，类别信息以及置信度数值。本发明提高了检测印刷电路板上各种缺陷的精度。
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