基于优化盒维数图像匹配的微机电系统面内位移测量方法

    公开(公告)号:CN104296667A

    公开(公告)日:2015-01-21

    申请号:CN201410633238.8

    申请日:2014-11-07

    Abstract: 本发明请求保护一种基于分形维数的MEMS面内位移测量法,涉及图像匹配技术和MEMS动态测量领域。本发明通过改进差分盒计数法,提出了一种新的维数计算法——优化盒计数法,克服了差分盒计数法存在“空盒子”的缺陷,将新的维数计算法和图像匹配技术相结合,实现图像的整像素匹配,再利用分形插值法,将匹配精确到亚像素级,最后利用匹配区域质心的不变性原理,实现面内位移的测量。

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