公开(公告)号：CN117110850A

公开(公告)日：2023-11-24

申请号：CN202310994299.6

申请日：2023-08-08

Applicant: 重庆邮电大学

Inventor： 王志鹏 ,  邓洁 ,  冀涵颖 ,  袁军

IPC: G01R31/317

Abstract: 本发明请求保护一种基于ST2500测试机的MCU片上ADC测试方法，包括以下步骤：①通过MCU的JTAG接口程序烧录，使MCU的片上ADC处于工作状态。②配置ST2500测试机，使测试机能够根据需要发出特定频率和幅度的正弦信号。③将MCU片上ADC的输入引脚与测试机发出正弦信号的引脚进行连接。④运行测试机和MCU程序，并将MCU片上ADC转换的结果读取出来。⑤对数据进行处理完成MCU片上ADC的动态参数和静态参数测试，判断MCU片上ADC是否合格。本发明提高了片上ADC测试的准确性。

公开(公告)号：CN116881061A

公开(公告)日：2023-10-13

申请号：CN202310993272.5

申请日：2023-08-08

Applicant: 重庆邮电大学

Inventor： 冀涵颖 ,  邓洁 ,  王志鹏 ,  袁军

IPC: G06F11/22

Abstract: 本发明请求保护一种基于ST2500测试机的MCU存储器测试方法，包括以下步骤：①通过被测MCU的IIC接口设计协议解析模块。②设计测试模式，利用MCU芯片IIC接口进行测试指令以及数据的传输，将MCU作为IIC从机，并采用中断触发机制，测试机发送激活序列使MCU处于复位状态。③激活MCU，若接收到正确的模式代码，则进入存储器测试模式，MCU芯片内部TEST_MODE信号有效，变为高电平。④MCU芯片根据地址数据以及测试数据写入存储器对应的区域，以进行存储器的写数据测试。⑤MCU根据地址数据将对应存储区域的数据通过输出，以进行存储器的读数据测试。⑥测试机将写入MCU的数据与读出的数据进行比较，若读写数据一致，则通过测试，否则测试失败。本发明提高了MCU测试的可靠性与覆盖率。

公开(公告)号：CN116967202A

公开(公告)日：2023-10-31

申请号：CN202310877396.7

申请日：2023-07-18

Applicant: 重庆邮电大学

Inventor： 张金娜 ,  张承畅 ,  李芥锋 ,  王志鹏

IPC: B08B3/12 ,  H05K3/26 ,  B08B3/10 ,  B08B3/14

Abstract: 本发明涉及集成电路加工技术领域，具体的说是一种集成电路加工用清洁设备及方法，包括架体组件，且架体组件包括支撑架和清洁箱，清洁箱的下端中间位置固定安装有升降组件，且升降组件的上端卡接有置物组件，升降组件的输出端固定安装有晃动组件，支撑架的中间位置固定安装有水处理组件，且水处理组件与清洁箱相连通，在进行使用时，通过配置多个置物组件，便于进行不间断的进行清洁作业，提高清洁速度，并在进行清洁时，通过超声波对洗板水进行震动，提高清洁效果，便于对残留的油剂等附着物进行清洁，并通过晃动组件，在清洁后，便于将杂质及时抽入到水处理组件的内部，避免在进行出水时，导致再次附着在集成电路板上，便于使用。