公开(公告)号：CN102445328A

公开(公告)日：2012-05-09

申请号：CN201110288545.3

申请日：2011-09-26

Applicant: 重庆邮电大学

Inventor： 郝宏刚 ,  李斌成 ,  尹波 ,  王斌 ,  阮巍 ,  谭菲

IPC: G01M11/02

Abstract: 本发明公开了一种实现光学薄膜元件吸收损耗绝对测量的方法，首先通过理论分析样品的反射率或透射率随温度变化的规律，拟合获得探测光波波长位置反射率或透射率与温度变化之间的线性关系A，建立实验系统，得到反射率或透射率随加热光功率变化的规律，拟合获得反射率或透射率与加热光功率之间的线性关系B，从而获得温度变化与加热光功率之间的线性关系C，然后，在实验测得样品表面加热光斑大小以及样品对加热光反射率或透射率的基础上，通过理论计算获得温度变化与加热光功率之间的线性关系D，最后通过调整样品对加热光的吸收率，使线性关系D与线性关系C相同，即可获得样品对加热光功率的吸收率绝对值，该方法可以较为简便的实现测量光学薄膜吸收损耗的绝对值。

公开(公告)号：CN102445328B

公开(公告)日：2014-06-11

申请号：CN201110288545.3

申请日：2011-09-26

Applicant: 重庆邮电大学

Inventor： 郝宏刚 ,  李斌成 ,  尹波 ,  王斌 ,  阮巍 ,  谭菲

IPC: G01M11/02

Abstract: 本发明公开了一种实现光学薄膜元件吸收损耗绝对测量的方法，首先通过理论分析样品的反射率或透射率随温度变化的规律，拟合获得探测光波波长位置反射率或透射率与温度变化之间的线性关系A，建立实验系统，得到反射率或透射率随加热光功率变化的规律，拟合获得反射率或透射率与加热光功率之间的线性关系B，从而获得温度变化与加热光功率之间的线性关系C，然后，在实验测得样品表面加热光斑大小以及样品对加热光反射率或透射率的基础上，通过理论计算获得温度变化与加热光功率之间的线性关系D，最后通过调整样品对加热光的吸收率，使线性关系D与线性关系C相同，即可获得样品对加热光功率的吸收率绝对值，该方法可以较为简便的实现测量光学薄膜吸收损耗的绝对值。