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公开(公告)号：CN115575277A
公开(公告)日：2023-01-06
申请号：CN202211253649.5
申请日：2022-10-13
Applicant: 重庆邮电大学
IPC: G01N5/04 , G01N23/2251 , G01N21/84 , G01N13/02
Abstract: 本发明实施例提供一种硅材料的蒸发速率测定方法和系统，包括：控制高速摄像机拍摄在无风且恒温恒湿环境中水滴在硅材料样品的加工区域表面的扩散过程图像并获取水在蒸发过程中不同时刻的天平测量数据；所述扩散过程图像包括硅材料样品湿润部分的轮廓；逐帧处理所述扩散过程图像并统计硅材料样品表面的加工区域面积；计算所述扩散过程图像中每个时刻硅材料样品表面的润湿区域面积；根据加工区域面积和润湿区域面积，计算得到实际润湿面积；根据不同时刻的实际润湿面积，计算不同时刻的水的蒸发速率，得到硅材料样品的蒸发速率。本发明实施例解决了现有技术对于硅材料的蒸发速率的测定还不够准确的技术问题。
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