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公开(公告)号：CN117237325A
公开(公告)日：2023-12-15
申请号：CN202311330420.1
申请日：2023-10-13
Applicant: 重庆邮电大学
IPC: G06T7/00 , G06N3/0464 , G06N3/084 , G06V10/764 , G06V10/40 , G06T5/00
Abstract: 本发明属于图像处理领域，具体涉及一种基于深度网络的工业缺陷检测方法，所述方法包括：获取工业产品表面缺陷图像；对所述工业产品表面缺陷图像进行数据预处理；将所述工业产品表面缺陷图像输入到训练好的深度网络中，输出工业缺陷预测结果。本发明旨在解决工业缺陷检测方法对小尺寸和微小尺寸缺陷的检测效果不佳的问题，满足工业场景对表面缺陷检测快速准确地检测的要求。
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