公开(公告)号：CN105974092A

公开(公告)日：2016-09-28

申请号：CN201610536741.0

申请日：2016-07-08

Applicant: 重庆科技学院

Inventor： 肖前华 ,  杨正明 ,  戚志林 ,  向祖平 ,  严文德 ,  王学武

IPC: G01N33/24

CPC classification number: G01N33/24

Abstract: 本发明公开了一种致密储层孔喉全尺度表征及分析方法，包括如下步骤：一、数据优选：（a）准备致密油岩样；（b）采用高压压汞仪Pore Master对岩样进行压汞实验；（c）采用自动等温吸附仪，在温度为77.35K，相对压力0.01‑1MPa之间进行低温氮气实验；（d）根据吸附法孔喉分布频率累积分布频率图，并在累积分布频率图上进行插值；（e）在25nm处将压汞法孔喉分布频率和转换后的吸附法孔喉分布频率连接；二、数据检验。该表征方法步骤简单，通过该方法可以分析不同储层孔喉分布规律，跨越多个数量级对储层不同尺度空间微观结构进行更准确深入的评价。