基于结构光原理并采用FPGA加速重建的PCB缺陷检测方法

    公开(公告)号:CN114792305A

    公开(公告)日:2022-07-26

    申请号:CN202210356480.X

    申请日:2022-04-06

    Abstract: 本发明涉及PCB缺陷检测技术领域,具体公开了一种基于结构光原理并采用FPGA加速重建的PCB缺陷检测方法,首先,对检测系统进行参数标定,在后续步骤中结合系统标定参数可精准地计算PCB的点云信息,有利于提高PCB缺陷检测效果。然后,投射正弦光栅至PCB(合格PCB样件、待检测PCB工件)上,使用工业摄像机捕获需要计算点云信息的图像。接着,将系统标定参数、所需重建的图像送入FPGA进行重建,获得合格PCB样件点云信息及待检测PCB工件点云信息。最后,将待检测PCB工件点云信息与合格PCB样件点云信息进行比较,根据高度及位置信息判断是否有缺陷,从而确定待检测PCB工件是否为良品。实施本方法,可以快速有效判断待检测PCB工件是否符合标准,提高检测效率和次品检出率。

    双向表征自主迭代网络下高表征迁移的中文图像识别方法

    公开(公告)号:CN114581912A

    公开(公告)日:2022-06-03

    申请号:CN202210267314.2

    申请日:2022-03-18

    Abstract: 本发明涉及中文图像识别技术领域,具体公开了一种双向表征自主迭代网络下高表征迁移的中文图像识别方法,首先对采集的不同自然场景下的英文图片和中文图片进行预处理,以增强训练时的图像数据的特征;然后通过双向表征自主迭代网络对英文数据集提取英文文本特征并生成相应的特征权重参数矩阵;进一步使用特征权重参数矩阵权重矩阵对中文识别网络模型进行初始化,从而加快微调模型性能提高的速度;以及将英文文本特征迁移到中文识别网络模型中,与根据中文数据集得到的中文文本特征相融合,生成新的中文文本特征参与下次卷积,依次类推,从而保证中文训练时特征的多样性,实现高表征迁移,识别率、运算速度、稳定性、鲁棒性显著提高。

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