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公开(公告)号:CN101667219B
公开(公告)日:2011-07-06
申请号:CN200910191018.3
申请日:2009-09-29
Applicant: 重庆大学
IPC: G06F17/50
Abstract: 本发明公开了一种印制电路板测试路径优化方法,其特征在于:所述方法包括如下步骤:A、读取ipc文件,得到待测点所属的网络号、正反面标志、坐标信息,以及相邻网络的信息;B、对信息进行预处理,C、优化路径、E、输出测试文件:开路优化完成后,将按照IPC文件标准生成CONTI.LST文件。本发明由ipc文件读出待测试电路板的所有点信息以及相邻网络信息,根据4针测试原则,重新对各网络号进行组合和排列,在不漏测任何网络的前提下尽量优化走针路径,使得飞针测试仪走针的路径最短,经实际应用,结果比现有软件在测试时间效率上提高了3%到16%,可广泛应用于印制电路板制造行业以及电子行业。
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公开(公告)号:CN101667219A
公开(公告)日:2010-03-10
申请号:CN200910191018.3
申请日:2009-09-29
Applicant: 重庆大学
IPC: G06F17/50
Abstract: 本发明公开了一种印制电路板测试路径优化方法,其特征在于:所述方法包括如下步骤:A.读取ipc文件,得到待测点所属的网络号、正反面标志、坐标信息,以及相邻网络的信息;B.对信息进行预处理,C.优化路径、E、输出测试文件:开路优化完成后,将按照IPC文件标准生成CONTI.LST文件。本发明由ipc文件读出待测试电路板的所有点信息以及相邻网络信息,根据4针测试原则,重新对各网络号进行组合和排列,在不漏测任何网络的前提下尽量优化走针路径,使得飞针测试仪走针的路径最短,经实际应用,结果比现有软件在测试时间效率上提高了3%到16%,可广泛应用于印制电路板制造行业以及电子行业。
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