公开(公告)号：CN105890535A

公开(公告)日：2016-08-24

申请号：CN201610178991.1

申请日：2016-03-25

Applicant: 重庆大学

Inventor： 陈伟民 ,  李竞飞 ,  雷小华 ,  许亨艺

IPC: G01B11/16

CPC classification number: G01B11/161

Abstract: 本发明实施例提供了一种光纤传感器制作装置，用于制作非本征型光纤法布里?珀罗传感器。所述非本征型光纤法布里?珀罗传感器包括第一光纤、第二光纤及毛细管。所述光纤传感器制作装置包括第一插入机构、第二插入机构、监测机构及固定机构。通过本光纤传感器制作装置制作非本征型光纤法布里?珀罗传感器时，光纤插入步骤通过监测机构、第一插入机构及第二插入机构配合完成，有效地提高了将第一光纤插入毛细管时插入精度以及将第二光纤插入毛细管时的插入精度，进而有效地提高了制作非本征型光纤法布里?珀罗传感器的成品率。此外，基于所述光纤传感器制作装置，本发明还提供了一种光纤传感器制作方法。

公开(公告)号：CN105890535B

公开(公告)日：2018-08-17

申请号：CN201610178991.1

申请日：2016-03-25

Applicant: 重庆大学

Inventor： 陈伟民 ,  李竞飞 ,  雷小华 ,  许亨艺

IPC: G01B11/16

Abstract: 本发明实施例提供了一种光纤传感器制作装置，用于制作非本征型光纤法布里‑珀罗传感器。所述非本征型光纤法布里‑珀罗传感器包括第一光纤、第二光纤及毛细管。所述光纤传感器制作装置包括第一插入机构、第二插入机构、监测机构及固定机构。通过本光纤传感器制作装置制作非本征型光纤法布里‑珀罗传感器时，光纤插入步骤通过监测机构、第一插入机构及第二插入机构配合完成，有效地提高了将第一光纤插入毛细管时插入精度以及将第二光纤插入毛细管时的插入精度，进而有效地提高了制作非本征型光纤法布里‑珀罗传感器的成品率。此外，基于所述光纤传感器制作装置，本发明还提供了一种光纤传感器制作方法。

公开(公告)号：CN104792502B

公开(公告)日：2017-12-08

申请号：CN201510213700.3

申请日：2015-04-29

Applicant: 重庆大学

Inventor： 陈伟民 ,  张伟 ,  雷小华 ,  许亨艺 ,  李竞飞

IPC: G01M11/02

Abstract: 本发明涉及一种测量弱光纤光栅反射率的方法，属于光谱测量技术领域。该方法具体包括以下步骤：将被测光纤光栅放置在低反射率光纤光栅反射率测试系统中；再将被测光纤光栅的UPC型光纤接头端清洁干净，并将它置于介质1中，获得被测光纤光栅的反射谱；然后保持系统固定，迅速再将UPC型光纤接头清洁干净后置于介质2中，再次获得被测光纤光栅的反射谱；最后利用两个反射光谱的峰值计算被测弱光纤光栅的反射率。本发明提供的一种测量弱光纤光栅反射率的方法，通过获取双反射光谱来计算测量弱光纤光栅反射率，消除了光纤端面及光纤接头连接对测量的影响，并且极大地减小了光源功率抖动的问题，能够满足精确测量弱光纤光栅反射率的要求。

公开(公告)号：CN104792502A

公开(公告)日：2015-07-22

申请号：CN201510213700.3

申请日：2015-04-29

Applicant: 重庆大学

Inventor： 陈伟民 ,  张伟 ,  雷小华 ,  许亨艺 ,  李竞飞

IPC: G01M11/02

Abstract: 本发明涉及一种测量弱光纤光栅反射率的方法，属于光谱测量技术领域。该方法具体包括以下步骤：将被测光纤光栅放置在低反射率光纤光栅反射率测试系统中；再将被测光纤光栅的UPC型光纤接头端清洁干净，并将它置于介质1中，获得被测光纤光栅的反射谱；然后保持系统固定，迅速再将UPC型光纤接头清洁干净后置于介质2中，再次获得被测光纤光栅的反射谱；最后利用两个反射光谱的峰值计算被测弱光纤光栅的反射率。本发明提供的一种测量弱光纤光栅反射率的方法，通过获取双反射光谱来计算测量弱光纤光栅反射率，消除了光纤端面及光纤接头连接对测量的影响，并且极大地减小了光源功率抖动的问题，能够满足精确测量弱光纤光栅反射率的要求。