基于大气环境参数的绝缘子积污预测方法

    公开(公告)号:CN108376194A

    公开(公告)日:2018-08-07

    申请号:CN201810144520.8

    申请日:2018-02-12

    Applicant: 重庆大学

    Abstract: 本发明提供的一种基于大气环境参数的绝缘子积污预测方法,包括下述步骤:S1:采集大气环境参数;S2:对大气环境参数中的大气污秽颗粒物粒径和质量浓度依次进行预处理和离散化处理形成颗粒质量浓度—粒径离散关系集合;S4:获取颗粒质量浓度—粒径离散关系集合中的大气污秽颗粒质量浓度和调用单位时间绝缘子积污量数据库中的绝缘子表面积污量,计算各检测时间段内的绝缘子表面积污增量;S5:对各检测时间段内的绝缘子表面积污增量进行叠加,得到持续积污时间段的绝缘子表面总积污量。本发明不需要组织人力开展现场绝缘子污秽度测量,只需要常规的大气环境参数检测,对绝缘子表面积污量进行预测,获得输配电外绝缘污秽状态。

    基于大气环境参数的绝缘子积污预测方法

    公开(公告)号:CN108376194B

    公开(公告)日:2021-10-01

    申请号:CN201810144520.8

    申请日:2018-02-12

    Applicant: 重庆大学

    Abstract: 本发明提供的一种基于大气环境参数的绝缘子积污预测方法,包括下述步骤:S1:采集大气环境参数;S2:对大气环境参数中的大气污秽颗粒物粒径和质量浓度依次进行预处理和离散化处理形成颗粒质量浓度—粒径离散关系集合;S4:获取颗粒质量浓度—粒径离散关系集合中的大气污秽颗粒质量浓度和调用单位时间绝缘子积污量数据库中的绝缘子表面积污量,计算各检测时间段内的绝缘子表面积污增量;S5:对各检测时间段内的绝缘子表面积污增量进行叠加,得到持续积污时间段的绝缘子表面总积污量。本发明不需要组织人力开展现场绝缘子污秽度测量,只需要常规的大气环境参数检测,对绝缘子表面积污量进行预测,获得输配电外绝缘污秽状态。

    一种直流架空线路绝缘子表面污秽沉积模拟方法

    公开(公告)号:CN109583066A

    公开(公告)日:2019-04-05

    申请号:CN201811396424.9

    申请日:2018-11-22

    Abstract: 本发明公开了一种直流架空线路绝缘子表面污秽沉积模拟方法,该方法充分考虑了绝缘子积污过程中的气流场特性、直流电场分布、以及污秽颗粒积聚/出射动态微观过程;在此基础上,本方法利用COMSOL耦合多物理场仿真软件开展了绝缘子表面污秽沉积数值计算,其结果能够较好地再现不同环境参数下的绝缘子表面污层分布情况;此外,通过该方法还可以计算得到绝缘子表面污秽质量密度、污秽不均匀度及积污带电系数。该方法可以做为强有力的工具,为分析输电线路外绝缘污秽问题提供支撑。

    以共振峰值平方最小化为优化目标的约束阻尼鼓筒的优化设计方法

    公开(公告)号:CN104200047B

    公开(公告)日:2017-04-12

    申请号:CN201410479469.8

    申请日:2014-09-18

    Applicant: 重庆大学

    Abstract: 本发明公开了一种以共振响应峰值平方最小化为优化目标的约束阻尼鼓筒优化设计方法,涉及结构优化设计领域,该方法包括以下步骤:1)将约束阻尼材料粘贴于航空发动机鼓筒内壁,构件约束阻尼鼓筒;2)建立约束阻尼鼓筒的拓扑优化模型;3)对约束阻尼鼓筒进行模态分析,提取约束阻尼胞单元的质量矩阵和刚度矩阵;4)计算每一个约束阻尼胞单元的灵敏度;5)计算下一步迭代的约束材料的目标使用量;6)判定是否达到约束条件。7)对拓扑优化的结果进行修正,便于实际工程应用。本方法解决了在一定频带激励下,使目标位置的共振响应峰值最小化的约束阻尼鼓筒布局优化问题。

    一种直流架空线路绝缘子表面污秽沉积模拟方法

    公开(公告)号:CN109583066B

    公开(公告)日:2023-06-09

    申请号:CN201811396424.9

    申请日:2018-11-22

    Abstract: 本发明公开了一种直流架空线路绝缘子表面污秽沉积模拟方法,该方法充分考虑了绝缘子积污过程中的气流场特性、直流电场分布、以及污秽颗粒积聚/出射动态微观过程;在此基础上,本方法利用COMSOL耦合多物理场仿真软件开展了绝缘子表面污秽沉积数值计算,其结果能够较好地再现不同环境参数下的绝缘子表面污层分布情况;此外,通过该方法还可以计算得到绝缘子表面污秽质量密度、污秽不均匀度及积污带电系数。该方法可以做为强有力的工具,为分析输电线路外绝缘污秽问题提供支撑。

    一种考虑可溶污秽成分的绝缘子耐受电压梯度计算方法

    公开(公告)号:CN110514968B

    公开(公告)日:2021-10-22

    申请号:CN201910664875.4

    申请日:2019-07-23

    Abstract: 本发明公开了一种考虑可溶污秽成分的绝缘子耐受电压梯度计算方法,该方法包括步骤1、计算绝缘子表面各可溶污秽成分的等值盐密含量分数;步骤2、基于硫酸钙溶解特性,对绝缘子表面各可溶污秽成分的等值盐密和灰密进行修正;步骤3、基于绝缘子表面各可溶污秽成分的等值盐密修正值,修正各可溶污秽成分对应的等值盐密含量分数;步骤4、计算各可溶污秽成分对应的闪络电压梯度,将计算后的结果进行叠加,得到混合污秽成分下的绝缘子耐受电压梯度;本发明解决了目前不能准确的计算出外绝缘的电压耐受度的问题。

    一种考虑可溶污秽成分的绝缘子耐受电压梯度计算方法

    公开(公告)号:CN110514968A

    公开(公告)日:2019-11-29

    申请号:CN201910664875.4

    申请日:2019-07-23

    Abstract: 本发明公开了一种考虑可溶污秽成分的绝缘子耐受电压梯度计算方法,该方法包括步骤1、计算绝缘子表面各可溶污秽成分的等值盐密含量分数;步骤2、基于硫酸钙溶解特性,对绝缘子表面各可溶污秽成分的等值盐密和灰密进行修正;步骤3、基于绝缘子表面各可溶污秽成分的等值盐密修正值,修正各可溶污秽成分对应的等值盐密含量分数;步骤4、计算各可溶污秽成分对应的闪络电压梯度,将计算后的结果进行叠加,得到混合污秽成分下的绝缘子耐受电压梯度;本发明解决了目前不能准确的计算出外绝缘的电压耐受度的问题。

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