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公开(公告)号:CN105911450B
公开(公告)日:2018-03-23
申请号:CN201610169018.3
申请日:2016-03-22
Applicant: 重庆大学
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明提供一种飞针测试机开路测试路径优化方法,其特征在于:所述方法包括如下步骤:A、读取并整理路径优化所需要的信息;B、循环对每个网络的点进行配对,然后再将配对合并;B1、建立第一至第十三容器;B2、分别从正面可测试点容器、反面可测试点容器中读取同一个网络的正面点及反面点,分别保存到第一容器、第二容器中;B3、对第一、二容器中的点重新排序;B4、进行开路配对;B7、配对合并,合并后放入第十三容器中;C、开路优化;D、生成测试文件:开路优化完成后,生成新的CONTI.LST文件;本发明比现有的软件在测试时间上可优化30%,测试时间可缩短50%;可广泛应用于印制电路板制造行业及测试行业。
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公开(公告)号:CN105911450A
公开(公告)日:2016-08-31
申请号:CN201610169018.3
申请日:2016-03-22
Applicant: 重庆大学
IPC: G01R31/28
CPC classification number: G01R31/2812
Abstract: 本发明提供一种飞针测试机开路测试路径优化方法,其特征在于:所述方法包括如下步骤:A、读取并整理路径优化所需要的信息;B、循环对每个网络的点进行配对,然后再将配对合并;B1、建立第一至第十三容器;B2、分别从正面可测试点容器、反面可测试点容器中读取同一个网络的正面点及反面点,分别保存到第一容器、第二容器中;B3、对第一、二容器中的点重新排序;B4、进行开路配对;B7、配对合并,合并后放入第十三容器中;C、开路优化;D、生成测试文件:开路优化完成后,生成新的CONTI.LST文件;本发明比现有的软件在测试时间上可优化30%,测试时间可缩短50%;可广泛应用于印制电路板制造行业及测试行业。
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