公开(公告)号：CN104713587B

公开(公告)日：2019-12-10

申请号：CN201410774401.2

申请日：2014-12-16

Applicant: 里特捷克有限公司

Inventor： P.考塞里克 ,  Z.伯兰

IPC: G01D21/00

Abstract: 本发明涉及用于监视纱的质量的方法和用于执行该方法的线性光检器。本发明涉及用于借助于包括一或两行单独矩形形状的光元件（10）的线性光传感器监视纱质量的光检测器中的纱或另一线性织物形成质量的方法，所述光元件在它们的输出中提供与它们的照射程度成比例的模拟信号。通过周期交替的低强度和高强度辐射照射纱，由此在每个周期内，至少以高辐射强度监视和记录所有单独光元件（10）的模拟信号，并从针对每个单独光元件（10）的这些信号减去预先或在各个周期期间检测的低辐射强度处的模拟信号值，借助于其得到的模拟信号免受所有寄生影响，其大小仅取决于光检测器辐射源的辐射程度。本发明还涉及用于执行该方法的线性光检测器。

公开(公告)号：CN104713587A

公开(公告)日：2015-06-17

申请号：CN201410774401.2

申请日：2014-12-16

Applicant: 里特捷克有限公司

Inventor： P.考塞里克 ,  Z.伯兰

IPC: G01D21/00

Abstract: 本发明涉及用于监视纱的质量的方法和用于执行该方法的线性光检器。本发明涉及用于借助于包括一或两行单独矩形形状的光元件（10）的线性光传感器监视纱质量的光检测器中的纱或另一线性织物形成质量的方法，所述光元件在它们的输出中提供与它们的照射程度成比例的模拟信号。通过周期交替的低强度和高强度辐射照射纱，由此在每个周期内，至少以高辐射强度监视和记录所有单独光元件（10）的模拟信号，并从针对每个单独光元件（10）的这些信号减去预先或在各个周期期间检测的低辐射强度处的模拟信号值，借助于其得到的模拟信号免受所有寄生影响，其大小仅取决于光检测器辐射源的辐射程度。本发明还涉及用于执行该方法的线性光检测器。