公开(公告)号：CN101046367A

公开(公告)日：2007-10-03

申请号：CN200710092184.9

申请日：2007-03-30

Applicant: 通用电气公司

Inventor： E·A·安达拉维斯 ,  S·达斯古普塔 ,  S·马尼 ,  陈为国

IPC: G01B7/14

CPC classification number: G01B7/14 ,  F01D21/003 ,  F05D2260/80

Abstract: 提供一种多触点间隙测量系统(12)。该间隙测量系统(12)包括布置在第一物体(24)上的传感器(28)，其中所述传感器包括被构造成产生信号的多个探测器触点(62，64，66，68)，所述信号代表与第二物体(26)相对应的感测参数，所述间隙测量系统还包括处理单元(34)，其被构造成估算来自探测器触点(62，64，66，68)的感测参数子集的信号，以检测异常探测器触点并调节相应异常探测器触点的增益或偏差，从而根据所述信号估计第一和第二物体(24，26)之间的间隙。

公开(公告)号：CN1892172B

公开(公告)日：2011-09-07

申请号：CN200610100044.7

申请日：2006-06-27

Applicant: 通用电气公司

Inventor： E·A·安达拉维斯 ,  M·布拉苏布拉马尼亚姆 ,  T·A·安德逊 ,  S·达斯古普塔 ,  D·M·沙多克 ,  S·马尼 ,  J·蒋

IPC: G01B7/14 ,  G01B21/16

CPC classification number: G01B7/144

Abstract: 本发明提供了间隙测量系统(12)和测量第一和第二物体之间间隙的方法，及相应的旋转机器。该间隙测量系统(12)包括：布置在具有其它的连续的表面几何形状的第一物体(14)上的参考几何形状(86)，所述参考几何形状包括具有多个不同级的多级结构；和布置在第二物体(16)上的传感器(64)，其中传感器(64)构造为产生代表了来自第一物体(14)的第一感测到的参数的第一信号，和代表了来自参考几何形状(86)的第二感测到的参数的第二信号。间隙测量系统(12)还包括处理单元(198)，构造为基于第一和第二感测到的参数之间的测量结果差异来处理第一和第二信号，以估计第一物体(14)和第二物体(16)之间的间隙。

公开(公告)号：CN1892172A

公开(公告)日：2007-01-10

申请号：CN200610100044.7

申请日：2006-06-27

Applicant: 通用电气公司

Inventor： E·A·安达拉维斯 ,  M·布拉苏布拉马尼亚姆 ,  T·A·安德逊 ,  S·达斯古普塔 ,  D·M·沙多克 ,  S·马尼 ,  J·蒋

IPC: G01B7/14 ,  G01B21/16

CPC classification number: G01B7/144

Abstract: 提供了间隙测量系统(12)。该间隙测量系统(12)包括布置在具有其它的连续的表面几何形状的第一物体(14)上的参考几何形状(86)，和布置在第二物体(16)上的传感器(64)，其中传感器(64)构造为产生代表了来自第一物体(14)的第一感测到的参数的第一信号，和代表了来自参考几何形状(86)的第二感测到的参数的第二信号。间隙测量系统(12)还包括处理单元(198)，构造为基于第一和第二感测到的参数之间的测量结果差异来处理第一和第二信号，以估计第一物体(14)和第二物体(16)之间的间隙。