公开(公告)号：CN1857163A

公开(公告)日：2006-11-08

申请号：CN200610077842.2

申请日：2006-05-08

Applicant: 通用电气公司

Inventor： E·H·曹 ,  T·L·托思 ,  M·S·哈米德

IPC: A61B6/03 ,  G01N23/04 ,  G01T1/00

CPC classification number: A61B6/585 ,  A61B6/4275

Abstract: 一种确定用于定位计算机断层成像系统的X射线光束(16)的跟踪控制参数的方法，该成像系统(10)包括可逐步定位的移动准直仪(53)和包括多个布置成行(90)和通道(92)的检测器元件(20)的检测器阵列(18)，所述行从检测器A端(210)延伸到检测器B端(212)。该方法包括：确定(102)检测器A端和检测器B端目标光束半影位置(220，222)；计算(104)对应于不同检测器行和检测器通道的多个Z比率曲线(230，232，234，236)；以及比较(106)检测器A端和检测器B端目标光束位置处的Z比率曲线以确定优化的Z比率曲线和用于控制X射线光束定位的相应的检测器通道和行。

公开(公告)号：CN1857163B

公开(公告)日：2010-06-09

申请号：CN200610077842.2

申请日：2006-05-08

Applicant: 通用电气公司

Inventor： E·H·曹 ,  T·L·托思 ,  M·S·哈米德

IPC: A61B6/03 ,  G01N23/04 ,  G01T1/00

CPC classification number: A61B6/585 ,  A61B6/4275

Abstract: 一种确定用于定位计算机断层成像系统的X射线光束(16)的跟踪控制参数的方法，该成像系统(10)包括可逐步定位的移动准直仪(53)和包括多个布置成行(90)和通道(92)的检测器元件(20)的检测器阵列(18)，所述行从检测器A端(210)延伸到检测器B端(212)。该方法包括：确定(102)检测器A端和检测器B端目标光束半影位置(220，222)；计算(104)对应于不同检测器行和检测器通道的多个Z比率曲线(230，232，234，236)；以及比较(106)检测器A端和检测器B端目标光束位置处的Z比率曲线以确定优化的Z比率曲线和用于控制X射线光束定位的相应的检测器通道和行。