公开(公告)号：CN109788926A

公开(公告)日：2019-05-21

申请号：CN201780058188.7

申请日：2017-09-12

Applicant: 通用电气公司

Inventor： 金燕南 ,  付赓 ,  P·M·埃迪克 ,  高河伟

IPC: A61B6/00 ,  H04N5/365 ,  G01T1/36 ,  G01V5/00

Abstract: 本文阐述了一种方法，该方法包括利用CT成像系统的X射线检测器阵列执行一个或多个校准扫描，其中，一个或多个校准扫描包括针对X射线检测器阵列的第一个至第N个元件中的每一个元件获取一个或多个校准测量；并且使用该一个或多个校准测量来更新第一个至第N个元件中的每一个元件的光谱响应模型。在另一个方面中，CT成像系统可使用用于X射线检测器阵列的元件的经更新的光谱响应模型来执行成像，例如包括材料分解(MD)成像。可使用校准过程来更新光谱响应模型，使得X射线检测器阵列的不同元件具有不同的光谱响应模型。

公开(公告)号：CN109788926B

公开(公告)日：2023-07-28

申请号：CN201780058188.7

申请日：2017-09-12

Applicant: 通用电气公司

Inventor： 金燕南 ,  付赓 ,  P·M·埃迪克 ,  高河伟

IPC: A61B6/00 ,  H04N23/30 ,  G01T1/36 ,  G01V5/00

Abstract: 本文阐述了一种方法，该方法包括利用CT成像系统的X射线检测器阵列执行一个或多个校准扫描，其中，一个或多个校准扫描包括针对X射线检测器阵列的第一个至第N个元件中的每一个元件获取一个或多个校准测量；并且使用该一个或多个校准测量来更新第一个至第N个元件中的每一个元件的光谱响应模型。在另一个方面中，CT成像系统可使用用于X射线检测器阵列的元件的经更新的光谱响应模型来执行成像，例如包括材料分解(MD)成像。可使用校准过程来更新光谱响应模型，使得X射线检测器阵列的不同元件具有不同的光谱响应模型。

公开(公告)号：CN107004284B

公开(公告)日：2021-04-06

申请号：CN201580067425.7

申请日：2015-09-18

Applicant: 通用电气公司

Inventor： 高河伟 ,  T.王 ,  范家华 ,  G.曹

IPC: G06T11/00

Abstract: 本发明提供了用于双能量光谱计算机断层照相成像的各种方法和系统。在一个实施例中，用于双能量成像的方法包括从较高能量数据集和更新的较低能量数据集生成图像，其中，所述更新的较低能量数据集包括较低能量数据集和从所述较高能量数据集生成的伪投影数据集的组合。以此方式，可以恢复微弱的低能量信号，从而尽管光子饥饿和稀疏视图，使能够实现图像重构。

公开(公告)号：CN107004284A

公开(公告)日：2017-08-01

申请号：CN201580067425.7

申请日：2015-09-18

Applicant: 通用电气公司

Inventor： 高河伟 ,  T.王 ,  范家华 ,  G.曹

IPC: G06T11/00

CPC classification number: A61B6/482 ,  A61B6/032 ,  A61B6/52 ,  G06T11/005 ,  G06T11/006 ,  G06T2211/408

Abstract: 本发明提供了用于双能量光谱计算机断层照相成像的各种方法和系统。在一个实施例中，用于双能量成像的方法包括从较高能量数据集和更新的较低能量数据集生成图像，其中，所述更新的较低能量数据集包括较低能量数据集和从所述较高能量数据集生成的伪投影数据集的组合。以此方式，可以恢复微弱的低能量信号，从而尽管光子饥饿和稀疏视图，使能够实现图像重构。