公开(公告)号：CN102564302A

公开(公告)日：2012-07-11

申请号：CN201010601226.9

申请日：2010-12-10

Applicant: 通用电气公司

Inventor： 陶立 ,  宋桂菊 ,  万新军 ,  凯文·G·哈丁 ,  史蒂文·R·哈亚西 ,  詹姆士·J·霍夫曼 ,  查尔斯·麦契摩 ,  雅纳·Z·威廉斯 ,  徐书宽

IPC: G01B11/00 ,  G01B11/22

CPC classification number: G01B11/2513 ,  G01B11/2527 ,  G01S17/36 ,  G01S17/89

Abstract: 本发明涉及一种测量系统和方法。该测量系统包括可产生复数个调制相移光线的光源单元、可反射所述复数个调制相移光线到物体表面的投射单元、可捕获由物体表面反射的调制相移光线的光学单元、可接收来自光学单元的调制相移光线并产生电信号的光电探测装置及可基于来自所述光电探测装置的电信号以获取所述物体表面的位置信息的处理装置。