公开(公告)号：CN101611291B

公开(公告)日：2012-04-18

申请号：CN200780051586.2

申请日：2007-11-30

Applicant: 通用电气公司

Inventor： 史蒂文·R·海亚希 ,  李忠国 ,  凯文·G·哈丁 ,  郑建明 ,  霍华德·P·韦弗 ,  杜晓明 ,  陈田

IPC: G01B11/08 ,  G01B11/24 ,  G01B11/00

CPC classification number: G01B11/24

Abstract: 一种测量物体的方法，包括：将所述物体定位在可动台架上；采用范围传感器执行对所述物体的旋转扫描；以及根据所述旋转扫描判定所述物体的几何参数。

公开(公告)号：CN101611291A

公开(公告)日：2009-12-23

申请号：CN200780051586.2

申请日：2007-11-30

Applicant: 通用电气公司

Inventor： 史蒂文·R·海亚希 ,  李忠国 ,  凯文·G·哈丁 ,  郑建明 ,  霍华德·P·韦弗 ,  杜晓明 ,  陈田

IPC: G01B11/08 ,  G01B11/24 ,  G01B11/00

CPC classification number: G01B11/24

Abstract: 一种测量物体的方法，包括：将所述物体定位在可动台架上；采用范围传感器执行对所述物体的旋转扫描；以及根据所述旋转扫描判定所述物体的几何参数。

公开(公告)号：CN1967141A

公开(公告)日：2007-05-23

申请号：CN200610148527.4

申请日：2006-11-15

Applicant: 通用电气公司

Inventor： K·G·哈丁 ,  郑建明 ,  李永青 ,  贾明 ,  宋桂菊 ,  J·B·罗斯 ,  R·G·伊萨克斯

IPC: G01B11/00 ,  G01B21/00

CPC classification number: G01B11/255 ,  G06T7/64 ,  G06T2207/10028 ,  G06T2207/30108

Abstract: 提供一种计算机实现的方法、系统和计算机程序代码，用来特征化边折(14)，例如可引起边缘锐度的零件特征和/或几何参数，如在斜面、斜角、倒角和其它零件特征中可能遇到的。该方法能够精确地和一致地确定制造设置、例如，用于特征化边折的任何可应用的集合参数。

公开(公告)号：CN101556143A

公开(公告)日：2009-10-14

申请号：CN200810084585.4

申请日：2008-04-09

Applicant: 通用电气公司

Inventor： 陶立 ,  凯文·G·哈丁 ,  胡庆英 ,  宋桂菊 ,  郑建明 ,  克拉克·A·本多尔 ,  托马斯·卡本 ,  贾明

IPC: G01B11/24 ,  G01B11/25

Abstract: 本发明涉及一种探测装置及方法。该探测装置包括光源、光栅、可动的透明板、光纤传像束、成像装置及处理单元。光源可产生光线。光线穿过光栅可产生光栅图案。可动的透明板可把光栅图案转变为多个相移条纹图案。光纤传像束可把相移条纹图案投影到一个物体表面上而产生投影后的条纹图案。成像装置用来获得投影后的条纹图案的图像。处理单元可利用获得的图像对物体表面进行重建。

公开(公告)号：CN101469975A

公开(公告)日：2009-07-01

申请号：CN200710301395.9

申请日：2007-12-27

Applicant: 通用电气公司

Inventor： 宋桂菊 ,  凯文·G·哈丁 ,  郑建明 ,  陶立 ,  杨波 ,  贾明 ,  胡庆英

IPC: G01B11/24

Abstract: 本发明涉及一种光学检测仪器和方法，该光学检测仪器是一种小视场光学检测仪器，可用以检测一表面上几微米的三维特征，该光学检测仪器包括产生一投射光路的光学投射装置、位于投射光路中改变该投射光并使其成为结构光的光栅装置、将所述结构光投射到所述表面上移动一定距离的相移装置、观察器以及计算机。观察器包括具有与该投射光路不平行的接收光路的光学接收系统和位于该接收光路中的相机，该相机用于观察并记录所述图像。计算机包括与相机之间的数据传输和基于反射图像所提供的表面轮廓信息进行轮廓测量建模的处理器。