公开(公告)号：CN108065950A

公开(公告)日：2018-05-25

申请号：CN201611001451.2

申请日：2016-11-14

Applicant: 通用电气公司

Inventor： 吴明烨 ,  金燕南 ,  布鲁诺·克里斯蒂安·伯纳德·迪曼 ,  杰德·道格拉斯·派克

IPC: A61B6/03

Abstract: 本发明公开了一种放射成像方法，包括以下步骤，通过辐射源发射波束到物体上；通过探测器检测穿过所述物体的所述波束，并输出投影数据；确定所述物体沿着所述波束的位置；基于所述物体的所述位置确定卷积核；根据所述卷积核估算散射分布；基于所述散射分布校正所述的投影数据；及使用所述经校正的投影数据生成图像。所述散射分布能够更准确地估算并生能生成更清晰的图像。

公开(公告)号：CN108065950B

公开(公告)日：2021-05-11

申请号：CN201611001451.2

申请日：2016-11-14

Applicant: 通用电气公司

Inventor： 吴明烨 ,  金燕南 ,  布鲁诺·克里斯蒂安·伯纳德·迪曼 ,  杰德·道格拉斯·派克

IPC: A61B6/03

Abstract: 本发明公开了一种放射成像方法，包括以下步骤，通过辐射源发射波束到物体上；通过探测器检测穿过所述物体的所述波束，并输出投影数据；确定所述物体沿着所述波束的位置；基于所述物体的所述位置确定卷积核；根据所述卷积核估算散射分布；基于所述散射分布校正所述的投影数据；及使用所述经校正的投影数据生成图像。所述散射分布能够更准确地估算并生能生成更清晰的图像。