公开(公告)号：CN113958371A

公开(公告)日：2022-01-21

申请号：CN202110826446.X

申请日：2021-07-21

Applicant: 通用电气公司

Inventor： 王光华 ,  布里翁·爱德华·奈特 ,  安德鲁·李·特里默 ,  杰森·爱德华·蒂斯 ,  伯纳德·帕特里克·布莱 ,  肖恩·罗伯特·法雷尔

IPC: F01D5/18 ,  F01D21/00 ,  F01D25/00

Abstract: 检查系统包括热成像传感器和一个或多个处理器，热成像传感器被配置为当流体朝向孔脉冲时捕获具有孔的部件的热成像数据，一个或多个处理器被配置为在时间上处理热成像数据以计算对应孔的时间得分和空间得分。得分可用于获得参考数据集和测试数据集。可以根据数据集之间的差为部件分配性能得分。

公开(公告)号：CN113958371B

公开(公告)日：2024-04-05

申请号：CN202110826446.X

申请日：2021-07-21

Applicant: 通用电气公司

Inventor： 王光华 ,  布里翁·爱德华·奈特 ,  安德鲁·李·特里默 ,  杰森·爱德华·蒂斯 ,  伯纳德·帕特里克·布莱 ,  肖恩·罗伯特·法雷尔

IPC: F01D5/18 ,  F01D21/00 ,  F01D25/00

Abstract: 检查系统包括热成像传感器和一个或多个处理器，热成像传感器被配置为当流体朝向孔脉冲时捕获具有孔的部件的热成像数据，一个或多个处理器被配置为在时间上处理热成像数据以计算对应孔的时间得分和空间得分。得分可用于获得参考数据集和测试数据集。可以根据数据集之间的差为部件分配性能得分。