公开(公告)号：CN102749332A

公开(公告)日：2012-10-24

申请号：CN201110096267.1

申请日：2011-04-18

Applicant: 通用电气公司

Inventor： 陶立 ,  宋桂菊 ,  凯文.G.哈丁 ,  杨东民 ,  翟梓融 ,  韩杰 ,  吉尔.阿布拉莫维奇

IPC: G01N21/88 ,  G01N21/01

CPC classification number: G01N21/8806 ,  G01N21/21 ,  G01N21/8803 ,  G01N21/954 ,  G02B5/3083 ,  G02B23/243 ,  G02B26/00 ,  G02B27/0075 ,  G02B27/286

Abstract: 本发明揭示一种光学系统和光学检测装置以及检测方法。该光学系统用于以视觉方式对待测对象进行检测，该待测对象的位置相对于光学系统可以变化。该光学系统包括将从待测对象反射的或者散射的入射光线转换成线性偏振光的偏光元件，在控制信号的作用下对线性偏振光的偏振状态进行调变的光学调变元件，及包括至少一个双折射元件的透镜群组。该双折射元件以第一折射率对入射的调变后的具有第一种偏振状态的线性偏振光进行折射以对相对该光学系统具有第一物距的待测对象进行视觉检测，该双折射元件以第二折射率对入射的调变后的具有第二种偏振状态的线性偏振光进行折射以对相对该光学系统具有第二物距的待测对象进行视觉检测。

公开(公告)号：CN102749332B

公开(公告)日：2015-08-26

申请号：CN201110096267.1

申请日：2011-04-18

Applicant: 通用电气公司

Inventor： 陶立 ,  宋桂菊 ,  凯文.G.哈丁 ,  杨东民 ,  翟梓融 ,  韩杰 ,  吉尔.阿布拉莫维奇

IPC: G01N21/88 ,  G01N21/01

CPC classification number: G01N21/8806 ,  G01N21/21 ,  G01N21/8803 ,  G01N21/954 ,  G02B5/3083 ,  G02B23/243 ,  G02B26/00 ,  G02B27/0075 ,  G02B27/286

Abstract: 本发明揭示一种光学系统和光学检测装置以及检测方法。该光学系统用于以视觉方式对待测对象进行检测，该待测对象的位置相对于光学系统可以变化。该光学系统包括将从待测对象反射的或者散射的入射光线转换成线性偏振光的偏光元件，在控制信号的作用下对线性偏振光的偏振状态进行调变的光学调变元件，及包括至少一个双折射元件的透镜群组。该双折射元件以第一折射率对入射的调变后的具有第一种偏振状态的线性偏振光进行折射以对相对该光学系统具有第一物距的待测对象进行视觉检测，该双折射元件以第二折射率对入射的调变后的具有第二种偏振状态的线性偏振光进行折射以对相对该光学系统具有第二物距的待测对象进行视觉检测。