公开(公告)号：CN105378427A

公开(公告)日：2016-03-02

申请号：CN201480023764.0

申请日：2014-04-25

Applicant: 通用电气公司

Inventor： 谢广平 ,  贾明 ,  翟梓融 ,  保罗·查劳瑞 ,  凯文·G·哈丁 ,  宋桂菊

IPC: G01B11/30 ,  G01B11/24 ,  G01N21/47

CPC classification number: G01B11/303 ,  G01B11/24 ,  G01B11/30 ,  G01B11/306 ,  G01N21/47 ,  G01N21/55

Abstract: 一种表面粗糙度测量装置，其在一个实施例中包括主发射纤维和辅助发射纤维、多个收集纤维、光学壳体、主反射镜和辅助反射镜，以及外部电路。光学壳体包括纤维，并且限定用于光学地接触物体的表面的孔口。主反射镜布置在光学壳体中，用于将从主发射纤维发射的光反射至孔口的检测点，并且将由物体反射的光反射至收集纤维。辅助反射镜布置在光学壳体中，用于将从辅助发射纤维发射的光反射至检测点。外部电路用于生成激光束至主发射纤维和辅助发射纤维，收集来自收集纤维的反射光，并且基于收集的反射光来计算物体的表面粗糙度。