可配置的测试套件
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102270165A

    公开(公告)日:2011-12-07

    申请号:CN201110148949.2

    申请日:2011-06-03

    CPC classification number: G06F11/2236

    Abstract: 本发明涉及可配置的测试套件。具体地,提供了一种用于对包含微处理器的模块进行测试的系统和方法,其中所述微处理器具有编程环境。所述编程环境具有测试数据结构、配置数据结构、和监测数据结构,所述各数据结构中包含数据。至少一个测试数据实例与测试数据结构相关联,至少一个配置数据实例与配置数据结构相关联。配置数据实例是对微处理器的参数进行监测的诊断测试,并且监测数据结构创建测试数据实例,使得各测试数据实例与配置数据实例中的一个相对应。所述程序包括第一控制逻辑,该控制逻辑关联测试数据结构、配置数据结构和监测数据结构作为编程环境的核心基础架构部分的一部分,其中所述程序的核心基础架构部分是静态的。

    可配置的测试套件
    2.
    发明授权

    公开(公告)号:CN102270165B

    公开(公告)日:2014-07-23

    申请号:CN201110148949.2

    申请日:2011-06-03

    CPC classification number: G06F11/2236

    Abstract: 本发明涉及可配置的测试套件。具体地,提供了一种用于对包含微处理器的模块进行测试的系统和方法,其中所述微处理器具有编程环境。所述编程环境具有测试数据结构、配置数据结构、和监测数据结构,所述各数据结构中包含数据。至少一个测试数据实例与测试数据结构相关联,至少一个配置数据实例与配置数据结构相关联。配置数据实例是对微处理器的参数进行监测的诊断测试,并且监测数据结构创建测试数据实例,使得各测试数据实例与配置数据实例中的一个相对应。所述程序包括第一控制逻辑,该控制逻辑关联测试数据结构、配置数据结构和监测数据结构作为编程环境的核心基础架构部分的一部分,其中所述程序的核心基础架构部分是静态的。

Patent Agency Ranking