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发明公开
一种生命周期成本的测算方法、电子设备和存储介质审中-实审

公开(公告)号：CN116228434A

公开(公告)日：2023-06-06

申请号：CN202310101855.2

申请日：2023-02-07

Applicant: 远光软件股份有限公司

Inventor： 韩永生 , 李旭东 , 栾腾照

IPC: G06Q40/06 , G06F17/18 , G06F17/11

Abstract: 本申请公开了一种生命周期成本的测算方法、电子设备和存储介质，该方法包括：获取多个同类设备的生命周期成本数据和影响参数数据，影响参数数据包括至少两个成本影响因素对应的因素信息；基于多个同类设备的生命周期成本数据，确定最优成本影响因素；其中，最优成本影响因素为一成本影响因素；基于目标设备在最优成本影响因素对应的因素信息和各同类设备在最优成本影响因素对应的因素信息，选出与目标设备匹配的同类设备；利用各与目标设备匹配的同类设备的生命周期成本数据进行成本测算，得到目标设备的生命周期成本测算结果。通过上述方式，本申请能够提高生命周期成本测算的准确性。

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