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公开(公告)号：CN106796146B
公开(公告)日：2020-11-06
申请号：CN201580053519.9
申请日：2015-09-08
Applicant: 赫普塔冈微光有限公司
Abstract: 本公开描述有助于将特定波长分配给测量的光电流的光学辐射传感器和检测技术。所述技术可用来确定辐射源的频谱发射特性。在一个方面中，一种确定入射辐射的频谱发射特性的方法包括：使用具有第一光敏区域和第二光敏区域的光检测器感测所述入射辐射中的至少一些，所述第一光敏区域和所述第二光敏区域的光学响应度特性彼此不同。所述方法还包括：基于来自所述第一区域的光电流与来自所述第二区域的光电流的比来识别所述入射辐射的波长。
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公开(公告)号：CN107076665B
公开(公告)日：2020-03-10
申请号：CN201580052780.7
申请日：2015-09-08
Applicant: 赫普塔冈微光有限公司
Abstract: 一种光电模块包括光导，所述光导被布置来接收光，诸如环境光或由物体反射的光。所述光导具有包括多个区段的衍射光栅，所述多个区段中的每个区段被调谐成相应的波长或窄波带。所述模块还包括多个光敏元件，所述多个光敏元件中的每个光敏元件被布置来接收由所述衍射光栅的所述区段中的相应一个所衍射的光。所述模块可例如被集成为光谱仪或用于光学确定物体的特性的其他设备的一部分。
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公开(公告)号：CN110809712A
公开(公告)日：2020-02-18
申请号：CN201880044047.4
申请日：2018-05-03
Applicant: 赫普塔冈微光有限公司
Inventor： 石崎幸太郎 , 哈维尔·米格尔-桑切斯 , 彼得·伦琴
Abstract: 校准光谱仪模块包括：使用光谱仪模块执行测量，以产生光谱仪模块的波长对操作参数校准数据；使用光谱仪模块执行测量，以产生光谱仪模块的光学串扰和暗噪声校准数据；以及使用光谱仪模块执行测量，以产生光谱仪模块的针对已知反射率标准的全系统响应校准数据。该方法可以进一步包括将包含波长对操作参数校准数据、光学串扰和暗噪声校准数据以及全系统响应校准数据的校准记录存储在耦接至光谱仪模块的存储器中，并将校准记录应用于由光谱仪模块进行的测量中。
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公开(公告)号：CN107850427A
公开(公告)日：2018-03-27
申请号：CN201680043749.1
申请日：2016-05-11
Applicant: 赫普塔冈微光有限公司
Abstract: 本发明描述了各种光电模块，包括：发射器，所述发射器可操作来产生光(例如，在可见或不可见范围中的电磁辐射)；发射器光学组件，所述发射器光学组件与所述发射器对准以便用由所述发射器产生的光照明所述模块外侧的对象；检测器，所述检测器可操作来检测由所述发射器产生的处于一个或多个波长下的光；以及检测器光学组件，所述检测器光学组件与所述检测器对准以便将由所述对象反射的光朝所述检测器指向。在一些实现方式中，所述模块包括用于扩大或偏移所述检测器的线性光电流响应的特征。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN105103027B
公开(公告)日：2018-02-23
申请号：CN201480016953.5
申请日：2014-02-18
Applicant: 赫普塔冈微光有限公司
CPC classification number: G01M11/0235 , G01J3/0208 , G01J3/0237 , G01J3/28 , G01M11/0207 , G02B7/02 , G02B7/04 , G02B7/28 , G02B21/0064
Abstract: 本发明公开了识别光学系统的焦点的位置，在一些实施方案中，所述识别光学系统的焦点的位置包括使用传感器系统来检测通过所述光学系统的光，并且基于所述传感器系统的焦点的位置，确定所述光学系统的焦点的位置，所述传感器系统的所述焦点的所述位置基本匹配所述光学系统的所述焦点的所述位置。
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公开(公告)号：CN107076665A
公开(公告)日：2017-08-18
申请号：CN201580052780.7
申请日：2015-09-08
Applicant: 赫普塔冈微光有限公司
Abstract: 一种光电模块包括光导，所述光导被布置来接收光，诸如环境光或由物体反射的光。所述光导具有包括多个区段的衍射光栅，所述多个区段中的每个区段被调谐成相应的波长或窄波带。所述模块还包括多个光敏元件，所述多个光敏元件中的每个光敏元件被布置来接收由所述衍射光栅的所述区段中的相应一个所衍射的光。所述模块可例如被集成为光谱仪或用于光学确定物体的特性的其他设备的一部分。
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公开(公告)号：CN106796146A
公开(公告)日：2017-05-31
申请号：CN201580053519.9
申请日：2015-09-08
Applicant: 赫普塔冈微光有限公司
Abstract: 本公开描述有助于将特定波长分配给测量的光电流的光学辐射传感器和检测技术。所述技术可用来确定辐射源的频谱发射特性。在一个方面中，一种确定入射辐射的频谱发射特性的方法包括：使用具有第一光敏区域和第二光敏区域的光检测器感测所述入射辐射中的至少一些，所述第一光敏区域和所述第二光敏区域的光学响应度特性彼此不同。所述方法还包括：基于来自所述第一区域的光电流与来自所述第二区域的光电流的比来识别所述入射辐射的波长。
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公开(公告)号：CN107850427B
公开(公告)日：2021-03-09
申请号：CN201680043749.1
申请日：2016-05-11
Applicant: 赫普塔冈微光有限公司
Abstract: 本发明描述了各种光电模块，包括：发射器，所述发射器可操作来产生光(例如，在可见或不可见范围中的电磁辐射)；发射器光学组件，所述发射器光学组件与所述发射器对准以便用由所述发射器产生的光照明所述模块外侧的对象；检测器，所述检测器可操作来检测由所述发射器产生的处于一个或多个波长下的光；以及检测器光学组件，所述检测器光学组件与所述检测器对准以便将由所述对象反射的光朝所述检测器指向。在一些实现方式中，所述模块包括用于扩大或偏移所述检测器的线性光电流响应的特征。
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公开(公告)号：CN106716748B
公开(公告)日：2020-09-04
申请号：CN201580051492.X
申请日：2015-09-23
Applicant: 赫普塔冈微光有限公司
Abstract: 本公开描述宽带光学发射源，包括：半导体层堆叠，其中所述半导体层中的每者可操作来发射具有不同相应波长的光；光源，可操作来提供光学泵浦，用于进行从所述堆叠的激发光子发射，其中所述半导体层顺序地安置在所述堆叠中，使得所述半导体层中的第一个最靠近所述光源，并且所述半导体层中的最后一个最远离所述光源，并且其中所述半导体层中的每个特定半导体层是可至少部分地由比所述特定半导体层更靠近所述光源的其他半导体层生成的光透过的。本公开还描述各种光谱仪，包括宽带光学发射装置，并任选地包括可调谐波长滤波器，所述可调谐波长滤波器可操作来允许所选择的波长或窄波长范围穿过。
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