公开(公告)号：CN103245683A

公开(公告)日：2013-08-14

申请号：CN201310043836.5

申请日：2013-02-01

Applicant: 赛默科技便携式分析仪器有限公司

Inventor： S.皮奥雷克 ,  S.I.谢夫斯基 ,  M.E.杜加斯

IPC: G01N23/223

CPC classification number: G01N23/223 ,  G01N2223/076

Abstract: 此处公开的技术包括用于识别假冒金制珠宝和其他假冒金制物品的系统和方法。技术包括使用非破坏性机制来确定感兴趣的物品（诸如表示为真金的制品）是足金物体还是镀金物体。技术包括使用X射线荧光（XRF）分析仪来将真金与镀金进行区分。该XRF分析仪可通过比较金的L-alpha和L-betax射线谱线的比值，来在镀金和大块金材料之间进行辨别。该分析仪使用X射线荧光（XRF）光谱学来测量金的特性L谱线的强度的比值。当使用XRF分析仪来实现时，该系统非破坏性地确定测试物体是由足金/金合金制成的还是只具有镀金。

公开(公告)号：CN107102018A

公开(公告)日：2017-08-29

申请号：CN201710137275.3

申请日：2013-02-01

Applicant: 赛默科技便携式分析仪器有限公司

Inventor： S.皮奥雷克 ,  S.I.谢夫斯基 ,  M.E.杜加斯

IPC: G01N23/223

CPC classification number: G01N23/223 ,  G01N2223/076

Abstract: 本发明涉及使用辐射的物体的金属可靠性检测。此处公开的技术包括用于识别假冒金制珠宝和其他假冒金制物品的系统和方法。技术包括使用非破坏性机制来确定感兴趣的物品（诸如表示为真金的制品）是足金物体还是镀金物体。技术包括使用X射线荧光（XRF）分析仪来将真金与镀金进行区分。该XRF分析仪可通过比较金的L‑alpha和L‑beta x射线谱线的比值，来在镀金和大块金材料之间进行辨别。该分析仪使用X射线荧光（XRF）光谱学来测量金的特性L谱线的强度的比值。当使用XRF分析仪来实现时，该系统非破坏性地确定测试物体是由足金/金合金制成的还是只具有镀金。