公开(公告)号：CN114127534B

公开(公告)日：2024-12-13

申请号：CN202080051082.6

申请日：2020-07-07

Applicant: 赛默科技便携式分析仪器有限公司

Inventor： P·凯瑞亚 ,  M·达格斯 ,  G·途利 ,  S·谢夫斯基

IPC: G01N15/02 ,  G01N23/223 ,  G01N23/207

Abstract: 本发明公开了用于使用由X射线在两个不同电压水平下生成的光谱来鉴定化合物的装置和方法。

公开(公告)号：CN114127534A

公开(公告)日：2022-03-01

申请号：CN202080051082.6

申请日：2020-07-07

Applicant: 赛默科技便携式分析仪器有限公司

Inventor： P·凯瑞亚 ,  M·达格斯 ,  G·途利 ,  S·谢夫斯基

IPC: G01N15/02 ,  G01N23/223 ,  G01N23/207

Abstract: 本发明公开了用于使用由X射线在两个不同电压水平下生成的光谱来鉴定化合物的装置和方法。