封装结构、天线模块以及探针卡

    公开(公告)号:CN115732898A

    公开(公告)日:2023-03-03

    申请号:CN202210224578.X

    申请日:2022-03-09

    Abstract: 本发明公开一种封装结构、天线模块以及探针卡。封装结构包括连接构件以及设置在连接构件上的第一重分布结构。连接构件包括连接件以及围绕连接件的绝缘层。第一重分布结构包括第一介电层、第一布线图案以及第一元件。第一介电层设置在连接构件上。第一布线图案设置在第一介电层中。第一元件设置在第一介电层上方且电连接至连接件。

    静电放电防护装置与具有电容的整合被动组件

    公开(公告)号:CN111370400B

    公开(公告)日:2023-01-10

    申请号:CN201910159382.5

    申请日:2019-03-04

    Abstract: 本发明公开一种静电放电防护装置与具有电容的整合被动组件。所述静电放电防护装置包括配置在封装的重布线层结构中的晶体管、阻抗以及电容。晶体管的第一端与第二端分别耦接至重布线层结构的第一电力轨线与第二电力轨线。阻抗的第一端耦接至第一电力轨线。阻抗的第二端耦接至晶体管的控制端。电容的第一端耦接至阻抗的第二端。电容的第二端耦接至第二电力轨线。

    游泳姿势校正方法及系统

    公开(公告)号:CN111603746A

    公开(公告)日:2020-09-01

    申请号:CN201910136769.9

    申请日:2019-02-25

    Abstract: 一种游泳姿势校正方法及系统,适于由计算装置利用至少两个重力传感器校正泳者的游泳姿势,其中重力传感器分别置于泳者实施相对划水动作的至少两个肢体的端部。此方法取得泳者的身体参数,以获取适于此身体参数实施一游泳姿势的协调性参考指标,并利用重力传感器监测所述肢体的划水动作,以获得肢体实施划水推进动作的时序图,然后分析时序图以计算泳者的协调性指标,以及将所计算的协调性指标与协调性参考指标比对,以根据比对结果提示校正游泳姿势。

    生理感测装置
    7.
    发明公开
    生理感测装置 审中-实审

    公开(公告)号:CN116195972A

    公开(公告)日:2023-06-02

    申请号:CN202111589589.X

    申请日:2021-12-23

    Abstract: 本发明提供一种生理感测装置,包括电子组件、耦合式感测电极、耦合介电层以及导线层。耦合式感测电极用以感测物体的生理信号,其中物体和耦合式感测电极之间具有电容值。耦合介电层配置于耦合式感测电极下方,使电容值介于1nF至10nF。导线层电连接电子组件与耦合式感测电极。

    电子装置
    8.
    发明公开

    公开(公告)号:CN112599532A

    公开(公告)日:2021-04-02

    申请号:CN202011002362.6

    申请日:2020-09-22

    Abstract: 本发明提供一种电子装置,包括像素阵列结构、重布线结构以及多个导电通孔结构。像素阵列结构包括多条信号线。重布线结构与像素阵列结构重叠设置且包括多条导线。多个导电通孔结构将像素阵列结构的多条信号线与重布线结构的多条导线电连接。多个导电通孔结构中的至少一个与像素阵列结构共用至少一层导电层。

    芯片封装结构及其制造方法

    公开(公告)号:CN110459531A

    公开(公告)日:2019-11-15

    申请号:CN201810908711.7

    申请日:2018-08-10

    Abstract: 本发明公开一种芯片封装结构及其制造方法,所述芯片封装结构包括重分布线路结构层、至少一芯片及封装胶体。重分布线路结构层包括至少一重分布线路、电连接重分布线路的至少一晶体管以及电连接重分布线路与晶体管的多个导电通孔。芯片设置于重分布线路结构层上,且与重分布线路结构层电连接。封装胶体设置于重分布线路结构层上,且至少包覆芯片。另提供一种芯片封装结构的制造方法。

    可挠性芯片封装
    10.
    发明公开

    公开(公告)号:CN109599370A

    公开(公告)日:2019-04-09

    申请号:CN201711419264.0

    申请日:2017-12-25

    Abstract: 本发明公开一种可挠性芯片封装,其包括:第一可挠性基板;第一重布线层,配置于所述第一可挠性基板上;第二可挠性基板;第二重布线层,配置于所述第二可挠性基板上;半导体芯片,配置于所述第一重布线层与所述第二重布线层之间,其中所述半导体芯片电连接至所述第一重布线层及所述第二重布线层至少其中一者;以及第一接合层,配置于所述第一重布线层与所述第二重布线层之间并且包覆所述半导体芯片,其中所述第一接合层、所述第一重布线层及所述第二重布线层位于所述第一可挠性基板与所述第二可挠性基板之间。

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