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公开(公告)号:CN112281138A
公开(公告)日:2021-01-29
申请号:CN202011077350.X
申请日:2020-10-10
Applicant: 许昌学院
IPC: C23C16/42 , C23C16/455
Abstract: 本发明提供了一种热原子层沉积技术ALD生长CoSix薄膜的方法,包括以下步骤:1)将半导体衬底置于反应腔中,在真空且载气存在的条件下,以脉冲形式向反应腔中通入气相Co源进行沉积,得到沉积有Co源的衬底;2)向反应腔中充入惰性气体对沉积有Co源的衬底进行吹扫;3)在载气存在的条件下,以脉冲形式向反应腔通入硅源,所述硅源为气相硅源,与沉积在衬底上的Co源进行单原子反应,得到纳米CoSix薄膜;4)向反应腔中充入惰性气体进行吹扫,完成一个ALD生长循环;重复步骤一至步骤四的操作1~3000次,即可得到生长有不同厚度的CoSix沉积层。本发明可以在衬底上沉积形成保型性好、表面粗糙度低的含CoSix沉积层。