公开(公告)号：CN105452846A

公开(公告)日：2016-03-30

申请号：CN201480034879.X

申请日：2014-03-05

Applicant: 西门子公司

Inventor： F.B.盖格 ,  M.凯德尔 ,  A.希克

IPC: G01N21/35 ,  G01N21/55 ,  A61B5/145

CPC classification number: G01N21/552 ,  A61B5/0075 ,  A61B5/0086 ,  A61B5/4244 ,  A61B5/6879 ,  A61B2505/05 ,  A61B2562/146 ,  G01N21/253 ,  G01N21/255 ,  G01N21/27 ,  G01N21/3563 ,  G01N21/3577 ,  G01N2201/061 ,  G01N2201/0636

Abstract: 本发明涉及一种利用反射矩阵实现衰减全反射红外光谱分析(ATR红外光谱分析)的装置。该反射矩阵实现含水的和/或粉末的样本的具有高信噪比的、位置分辨的光谱分析，而无需预先进行麻烦的样本准备。此外还提供一种方法，该方法结合该反射矩阵实现样本的高信号强度的成像。