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发明公开
一种针对多本振频点微波变频器的频谱杂散测试方法审中-实审

公开(公告)号：CN115840079A

公开(公告)日：2023-03-24

申请号：CN202211528373.7

申请日：2022-11-30

Applicant: 西安空间无线电技术研究所

Inventor： 李芃博 , 李新雷 , 张进仓 , 高妍 , 同军超 , 鲁飞 , 陈菲菲

IPC: G01R23/16

Abstract: 本发明提供一种针对多本振频点微波变频器的频谱杂散测试方法，首先通过对变频器的工作带宽进行频谱划分；再通过判断变频器首末本振频点下的频谱杂散位置来确定频谱杂散分布类型；然后根据频谱杂散分布类型确定杂散搜索模式和搜索范围；切换变频器本振频点至首本振频点，获取当前本振频点下工作子带频谱轨迹采样点，按照上述步骤中确定的杂散搜索模式完成当前本振频点工作子带的频谱杂散搜索，然后将变频器切换到下一个本振频点，再重复之前获取频谱轨迹采样点和频谱搜索的步骤完成当前本振频点下频谱杂散的测试，当依次遍历完变频器的每个本振频点，则完成了多本振频点每个本振频点下工作子带的频谱杂散测试。

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