一种应用插入损耗值检验波导的方法

    公开(公告)号:CN112350772A

    公开(公告)日:2021-02-09

    申请号:CN202011148641.3

    申请日:2020-10-23

    Abstract: 一种应用插入损耗值检验波导的方法,属于卫星载荷设计领域,包括如下步骤:S1、确定波导插入损耗值的影响因子,包括波导弯头数、波导段数、随机误差;S2、利用波导弯头数、波导段数、随机误差,建立波导插入损耗值预估模型;S3、根据每根波导的弯头数、段数,利用波导插入损耗值预估模型,确定每根波导的插入损耗估计值;S4、对任意一根波导,如果该波导的实测插入损耗值超过该波导的插入损耗估计值,则对该波导标记异常,并进行复测,复测结果仍超过插入损耗估计值,判定该波导不合格。本发明使用预估模型,结合不同波导组件的影响因子的不同,预估出每根波导组件的插入损耗值,从而判断该波导是否符合使用要求。

    一种基于RS码的星载固态存储器容错处理方法及系统

    公开(公告)号:CN120048322A

    公开(公告)日:2025-05-27

    申请号:CN202411910974.3

    申请日:2024-12-24

    Abstract: 本发明公开了一种基于RS码的星载固态存储器容错处理方法及系统,方法包括如下步骤:步骤一:星载固态存储器的输入端对输入设备送来的记录数据进行RS译码,消除链路误码;步骤二:数据记录过程中,RS译码后的记录数据在写入FLASH前进行RS编码;数据回放过程中,读出FLASH时进行RS译码,结合FLASH坏块自动剔除与重构策略纠正FLASH有异常坏块时的数据错误并给出坏块标记;步骤三:星载固态存储器的输出端对回放数据进行RS编码后送至输出设备,消除链路误码。该方法可有效解决固态存储器传输路径的误码干扰,并能够对固态存储器在轨使用过程中出现的FLASH坏块自主剔除和快速重构,不需要人工参与,提升了星载固态存储器可靠性。

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