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公开(公告)号：CN105515690A
公开(公告)日：2016-04-20
申请号：CN201510843306.8
申请日：2015-11-26
Applicant: 西安空间无线电技术研究所
CPC classification number: H04B1/0096 , H04B1/52
Abstract: 本发明提供了一种变频天线的近场扫频测试系统及其测试方法，该系统包括测试信号源、耦合模块、测试通道、参考通道、接收机和控制计算机；其中，测试通道包括发射模块、被测变频天线、第二混频模块和第三混频模块。本发明测试通道中的第二混频模块对被测变频天线输出的多频点信号进行变频处理，该混频模块的本振信号按照设定的频率列表顺序选取，并在每次接收到触发信号后轮换本振信号频率，从而实现各频点天线输出信号的分时测试，每次将其中一个频点的输出信号变频到射频发射信号频段，然后采用与参考模块相同的本振信号进行下变频，得到用于比相和比幅的中频参考信号和中频测试信号；这种测试方法可以确保链路信号的相位一致性，实现变频天线的平面近场快速扫频测试功能，提高测试效率。
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公开(公告)号：CN105515690B
公开(公告)日：2018-04-10
申请号：CN201510843306.8
申请日：2015-11-26
Applicant: 西安空间无线电技术研究所
Abstract: 本发明提供了一种变频天线的近场扫频测试系统及其测试方法，该系统包括测试信号源、耦合模块、测试通道、参考通道、接收机和控制计算机；其中，测试通道包括发射模块、被测变频天线、第二混频模块和第三混频模块。本发明测试通道中的第二混频模块对被测变频天线输出的多频点信号进行变频处理，该混频模块的本振信号按照设定的频率列表顺序选取，并在每次接收到触发信号后轮换本振信号频率，从而实现各频点天线输出信号的分时测试，每次将其中一个频点的输出信号变频到射频发射信号频段，然后采用与参考模块相同的本振信号进行下变频，得到用于比相和比幅的中频参考信号和中频测试信号；这种测试方法可以确保链路信号的相位一致性，实现变频天线的平面近场快速扫频测试功能，提高测试效率。
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公开(公告)号：CN106338655B
公开(公告)日：2018-10-09
申请号：CN201610710111.0
申请日：2016-08-23
Applicant: 西安空间无线电技术研究所
Abstract: 一种平面近场探头安装精度引起的测试误差修正方法，包括步骤如下：一、按照平面近场测试方法将待测天线进行安装，场地校准；二、在探头初始位置，设定扫描范围、测试距离，进行第一个极化分量数据的采集，得到近场数据D0，探头旋转90度得到近场数据D90，探头继续旋转90度得到近场数据D180，探头继续旋转90度得到近场数据D270；三、进行近远场变换与数据修正，得到最终修正后的待测天线方向图数据。本发明避免了探头安装的机械调整工作，通过数学算法对探头安装精度引起的测量误差进行修正，得到修正探头安装精度后的方向图测试数据，极大的降低平面近场对于探头安装的机械精度要求。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN107219410A
公开(公告)日：2017-09-29
申请号：CN201710478259.0
申请日：2017-06-21
Applicant: 西安空间无线电技术研究所
Abstract: 本发明公开了一种基于探头扫频位移偏移量的平面近场测量修正方法，包括如下步骤：(1)、对待测天线进行安装和场地校准，建立平面近场测试环境；(2)、对天线进行平面近场测量，得到N个频率的远场方向图i＝1～N；(3)、移动测试探头分别采集N个频率的+Y方向一维平面近场幅相分布数据和‑Y方向一维平面近场幅相分布数据(4)、计算每一个频率测量对应的探头沿近场扫描平面Y轴方向的扫频位移偏移量Δyi；(5)、对远场方向图进行修正，得到修正本发明在保证扫描架连续运动的高效测量模式下，修正了由于扫描架连续运动导致的探头位移引起的天线辐射特性测试误差，提高了天线的测试精度。
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公开(公告)号：CN106338655A
公开(公告)日：2017-01-18
申请号：CN201610710111.0
申请日：2016-08-23
Applicant: 西安空间无线电技术研究所
Abstract: 一种平面近场探头安装精度引起的测试误差修正方法，包括步骤如下：一、按照平面近场测试方法将待测天线进行安装，场地校准；二、在探头初始位置，设定扫描范围、测试距离，进行第一个极化分量数据的采集，得到近场数据D0，探头旋转90度得到近场数据D90，探头继续旋转90度得到近场数据D180，探头继续旋转90度得到近场数据D270；三、进行近远场变换与数据修正，得到最终修正后的待测天线方向图数据。本发明避免了探头安装的机械调整工作，通过数学算法对探头安装精度引起的测量误差进行修正，得到修正探头安装精度后的方向图测试数据，极大的降低平面近场对于探头安装的机械精度要求。
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公开(公告)号：CN107219410B
公开(公告)日：2019-09-06
申请号：CN201710478259.0
申请日：2017-06-21
Applicant: 西安空间无线电技术研究所
Abstract: 本发明公开了一种基于探头扫频位移偏移量的平面近场测量修正方法，包括如下步骤：(1)、对待测天线进行安装和场地校准，建立平面近场测试环境；(2)、对天线进行平面近场测量，得到N个频率的远场方向图i＝1～N；(3)、移动测试探头分别采集N个频率的+Y方向一维平面近场幅相分布数据和‑Y方向一维平面近场幅相分布数据(4)、计算每一个频率测量对应的探头沿近场扫描平面Y轴方向的扫频位移偏移量Δyi；(5)、对远场方向图进行修正，得到修正本发明在保证扫描架连续运动的高效测量模式下，修正了由于扫描架连续运动导致的探头位移引起的天线辐射特性测试误差，提高了天线的测试精度。
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公开(公告)号：CN106249057B
公开(公告)日：2018-10-09
申请号：CN201610607127.9
申请日：2016-07-28
Applicant: 西安空间无线电技术研究所
IPC: G01R29/10
Abstract: 一种大型绕焦点转动波束扫描天线辐射特性等效测试方法，本发明采用旋转馈源等效旋转反射面的方式，通过方向图坐标变换以及相位输出原点平移技术得到实际工作状态的方向图测试数据。将待测天线安装在转台上，使用经纬仪测量天线坐标系与场地坐标系关系，利用转台进行调整，然后用摄影测量调整馈源位置至设计位置，测量方向图。利用方向图坐标变换以及相位输出原点平移技术将测得方向图变换至天线坐标系下，即实际工作状态。本发明与传统测试方法相比较，更好的模拟了绕焦点转动波束扫描天线在卫星上波束扫描的实际工作状态，更容易调整天线指向，降低的对天线工装的要求，严格的数学推导降低了幅度方向图直接平移带来的误差，以及确定了新坐标系原点下的相位方向图。
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公开(公告)号：CN106249057A
公开(公告)日：2016-12-21
申请号：CN201610607127.9
申请日：2016-07-28
Applicant: 西安空间无线电技术研究所
IPC: G01R29/10
CPC classification number: G01R29/10
Abstract: 一种大型绕焦点转动波束扫描天线辐射特性等效测试方法，本发明采用旋转馈源等效旋转反射面的方式，通过方向图坐标变换以及相位输出原点平移技术得到实际工作状态的方向图测试数据。将待测天线安装在转台上，使用经纬仪测量天线坐标系与场地坐标系关系，利用转台进行调整，然后用摄影测量调整馈源位置至设计位置，测量方向图。利用方向图坐标变换以及相位输出原点平移技术将测得方向图变换至天线坐标系下，即实际工作状态。本发明与传统测试方法相比较，更好的模拟了绕焦点转动波束扫描天线在卫星上波束扫描的实际工作状态，更容易调整天线指向，降低的对天线工装的要求，严格的数学推导降低了幅度方向图直接平移带来的误差，以及确定了新坐标系原点下的相位方向图。
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