-
公开(公告)号：CN104102017B
公开(公告)日：2017-09-29
申请号：CN201410320944.7
申请日：2014-07-07
Applicant: 西安电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于结构光照的随机散射光学超衍射极限成像系统及方法，主要解决现有同类技术工艺复杂、成像时间长、系统结构难实现、成像分辨率低的问题。其成像系统包括：光源、扩束器、空间光调制器、λ/4波片、扩束透镜组、挡光板、透镜、随机散射介质、会聚透镜、和CCD相机；光源发射的光束经扩束器扩束后入射到空间光调制器上，得到0级光和±1级光；通过λ/4波片获得圆偏振光，经扩束透镜组扩束后到达挡光板，保留±1级光；±1级光经透镜发生干涉，产生结构光照明观测目标；照亮的观测目标进入随机散射介质，发生强散射，经会聚透镜入射到CCD相机。本发明具有结构简单和成像分辨率高的优点，可用于光学超分辨率成像。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN104079808B
公开(公告)日：2017-05-10
申请号：CN201410330951.5
申请日：2014-07-13
Applicant: 西安电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种超高分辨率宽场成像系统，主要解决现有技术分辨率低、视场畸变严重的问题，其包括：单心球形主物镜(11)、微相机阵列(12)、探测器阵列(13)、微相机控制模块(14)、图像拼接模块(21)、显示器(22)和存储器(23)；入射光线依次经过单心球形主物镜(11)、微相机阵列(12)，到达探测器阵列(13)上成像，微相机控制模块(14)将探测器阵列(13)上生成的图像送到图像拼接模块(21)进行图像拼接，得到宽视场高分辨率图像，存储器(22)对该高分辨率图像进行存储，并通过显示器(23)显示。本发明结构简单，且具有视场宽、分辨率高的优点，可用于空间监视、监控、侦查和告警。
-
公开(公告)号：CN105759440A
公开(公告)日：2016-07-13
申请号：CN201610285138.X
申请日：2016-04-29
Applicant: 西安电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于结构光照的随机散射光学超衍射极限成像方法，主要解决现有同类技术工艺复杂、成像分辨率低的问题。其技术方案是：1.对采集到的原始图像进行图像亮度均一化处理和傅立叶变换操作，获得对应的频谱；2.通过控制空间光调制器在0°、45°、90°和135°每个方向上输入三个不同的相位值，组成3×3线性方程组并求解，以分离出每个方向上的0级、+1级和?1级频谱成像信息，得到四组结构光照明的频率分量，并对其进行频率拼接，得到扩展频谱；3.在频率域内获取随机散射介质的传输矩阵数据立方体；4.根据该立方体和扩展频谱重建观测目标图像。本发明具有成像分辨率高的优点，可用于光学超分辨率成像。
-
公开(公告)号：CN104102017A
公开(公告)日：2014-10-15
申请号：CN201410320944.7
申请日：2014-07-07
Applicant: 西安电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于结构光照的随机散射光学超衍射极限成像系统及方法，主要解决现有同类技术工艺复杂、成像时间长、系统结构难实现、成像分辨率低的问题。其成像系统包括：光源、扩束器、空间光调制器、λ/4波片、扩束透镜组、挡光板、透镜、随机散射介质、会聚透镜、和CCD相机；光源发射的光束经扩束器扩束后入射到空间光调制器上，得到0级光和±1级光；通过λ/4波片获得圆偏振光，经扩束透镜组扩束后到达挡光板，保留±1级光；±1级光经透镜发生干涉，产生结构光照明观测目标；照亮的观测目标进入随机散射介质，发生强散射，经会聚透镜入射到CCD相机。本发明具有结构简单和成像分辨率高的优点，可用于光学超分辨率成像。
-
公开(公告)号：CN104079808A
公开(公告)日：2014-10-01
申请号：CN201410330951.5
申请日：2014-07-13
Applicant: 西安电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种超高分辨率宽场成像系统，主要解决现有技术分辨率低、视场畸变严重的问题，其包括：单心球形主物镜(11)、微相机阵列(12)、探测器阵列(13)、微相机控制模块(14)、图像拼接模块(21)、显示器(22)和存储器(23)；入射光线依次经过单心球形主物镜(11)、微相机阵列(12)，到达探测器阵列(13)上成像，微相机控制模块(14)将探测器阵列(13)上生成的图像送到图像拼接模块(21)进行图像拼接，得到宽视场高分辨率图像，存储器(22)对该高分辨率图像进行存储，并通过显示器(23)显示。本发明结构简单，且具有视场宽、分辨率高的优点，可用于空间监视、监控、侦查和告警。
-
公开(公告)号：CN103592108A
公开(公告)日：2014-02-19
申请号：CN201310644035.4
申请日：2013-12-01
Applicant: 西安电子科技大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明公开了一种CCD芯片调制传递函数测试装置及测试方法，其测试装置主要包括He-Ne激光器、可调衰减器、扩束镜、针孔滤波器、光阑、准直透镜、改进型迈克尔逊干涉仪、暗箱、图像采集卡和PC数据处理系统。He-Ne激光器、可调衰减器、扩束镜、针孔滤波器、光阑、准直透镜依次位于改进型迈克尔逊干涉仪入射光路上且各部分光轴为一条直线；暗箱位于改进型迈克尔逊干涉仪的出射光路PC数据处理系统与暗箱中接有CCD的图像采集卡相连。入射光线经测试装置处理成平行光，再经干涉仪射出正弦干涉条纹，利用正弦干涉条纹图样作为靶标，通过CCD成像，然后利用正弦干涉条纹对比度与像对比度比值的方法测试出CCD的调制传递函数。
-
-
-
-
-
Search Results
6
records
(took 0.018 seconds)
