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公开(公告)号：CN111739068B
公开(公告)日：2024-03-01
申请号：CN202010373721.2
申请日：2020-05-06
Applicant: 西安电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种光场相机相对位姿估计方法，包括：获得同一场景在第一光场下的第一原始图像和在第二光场下的第二原始图像；获取第一原始图像任一角度的子孔径图像的第一特征点坐标数据和第二原始图像同一角度的子孔径图像的第二特征点坐标数据；根据第一特征点数据和第一光场深度参数获得第一原始图像的第一光场点数据，根据第二特征点数据和第二光场深度参数获得第二原始图像的第二光场点数据；建立第一光场点数据和第二光场点数据中对应光场点的线性约束公式；根据线性约束公式获取光场相机相对位姿。该方法根据光场相机的特性建立光场间的约束模型，以估计光场相机的相对位姿，具有更高的鲁棒性和准确性。
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公开(公告)号：CN111739068A
公开(公告)日：2020-10-02
申请号：CN202010373721.2
申请日：2020-05-06
Applicant: 西安电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种光场相机相对位姿估计方法，包括：获得同一场景在第一光场下的第一原始图像和在第二光场下的第二原始图像；获取第一原始图像任一角度的子孔径图像的第一特征点坐标数据和第二原始图像同一角度的子孔径图像的第二特征点坐标数据；根据第一特征点数据和第一光场深度参数获得第一原始图像的第一光场点数据，根据第二特征点数据和第二光场深度参数获得第二原始图像的第二光场点数据；建立第一光场点数据和第二光场点数据中对应光场点的线性约束公式；根据线性约束公式获取光场相机相对位姿。该方法根据光场相机的特性建立光场间的约束模型，以估计光场相机的相对位姿，具有更高的鲁棒性和准确性。
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