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公开(公告)号：CN110146841B
公开(公告)日：2022-11-04
申请号：CN201910368239.7
申请日：2019-05-05
Applicant: 西安电子科技大学
IPC: G01S3/14
Abstract: 本发明属于雷达信号处理技术领域，公开了一种提高阵列波达方向估计性能的优化方法，包括以下步骤：设置雷达阵元为均匀直线阵列，使用基追踪算法得到阵列波达方向的初始解；对初始解迭代执行尾部优化算法，求得最终优化解；记录迭代执行尾部优化算法所需的尾部元素，求解每个尾部元素集合的平均值；将尾部元素集合的平均值记录为一个数值集合；建立二维坐标系，将数值集合中的元素在二维坐标系中标示出来，其中曲线斜率变化最大的点所对应的值即为估计信源总数；对最终迭代优化解中的元素从大到小进行排序，按照估计信源总数从中取出排序靠前的元素，即可得到波达方向估计的精确解。精确解已经去除了初始解中的伪峰，为高精度的波达方向估计。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN110146841A
公开(公告)日：2019-08-20
申请号：CN201910368239.7
申请日：2019-05-05
Applicant: 西安电子科技大学
IPC: G01S3/14
Abstract: 本发明属于雷达信号处理技术领域，公开了一种提高阵列波达方向估计性能的优化方法，包括以下步骤：设置雷达阵元为均匀直线阵列，使用基追踪算法得到阵列波达方向的初始解；对初始解迭代执行尾部优化算法，求得最终优化解；记录迭代执行尾部优化算法所需的尾部元素，求解每个尾部元素集合的平均值；将尾部元素集合的平均值记录为一个数值集合；建立二维坐标系，将数值集合中的元素在二维坐标系中标示出来，其中曲线斜率变化最大的点所对应的值即为估计信源总数；对最终迭代优化解中的元素从大到小进行排序，按照估计信源总数从中取出排序靠前的元素，即可得到波达方向估计的精确解。精确解已经去除了初始解中的伪峰，为高精度的波达方向估计。
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公开(公告)号：CN111812606A
公开(公告)日：2020-10-23
申请号：CN202010495880.X
申请日：2020-06-03
Applicant: 西安电子科技大学
IPC: G01S7/41 , G01F23/284
Abstract: 本发明公开了一种基于导波雷达的物位提取方法，包括：利用导波雷达物位计采集不同距离的完整回波信号并记录实际物位距离，并将所述回波信号通过低通滤波器进行滤波；将所述滤波后回波信号的顶部回波点作为参考点，对齐不同距离下的回波信号的参考点；进行回波峰值寻找，找出滤波后回波信号中所有波峰值和波谷值；在波峰值点中找到理想回波点，得到理想回波点对应的距离；通过三次样条插值方式进行距离插值计算，得到不同距离对应的回波点，以及对应的距离；将插值计算得到物位距离与实际物位距离对比，获得所述物位提取方法的误差值。该物位提取方法比传统的峰值寻找算法性能更佳，误差更小。
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公开(公告)号：CN106979820A
公开(公告)日：2017-07-25
申请号：CN201710155926.1
申请日：2017-03-14
Applicant: 西安电子科技大学
CPC classification number: G01J5/0096 , G01J5/52 , G01J2005/0077 , G01R31/281 , G01R31/2851
Abstract: 本发明属于电子设备故障检测领域，公开了一种基于相似性度量因数的红外温升元件异常检测方法包括：获取标准光学图像、标准红外图像，和待测红外图像；将标准光学图像进行标定；确定待检测元件，以及与待检测元件对应的标准元件；得到N组标准电子设备电路板上标准元件的标准温升曲线；以及一组待测电子设备电路板上待检测元件的实际温升曲线；对温升曲线依次进行起点校正、阶跃校正，得到标准元件的标准参考温升曲线；确定热像异常门限；计算待检测元件的相似性度量因数，若相似性度量因数大于热像异常门限，则待检测元件正常，否则待检测元件异常；能够提高电子设备电路板上元件故障检测的实时性。
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公开(公告)号：CN106979820B
公开(公告)日：2019-02-19
申请号：CN201710155926.1
申请日：2017-03-14
Applicant: 西安电子科技大学
Abstract: 本发明属于电子设备故障检测领域，公开了一种基于相似性度量因数的红外温升元件异常检测方法包括：获取标准光学图像、标准红外图像，和待测红外图像；将标准光学图像进行标定；确定待检测元件，以及与待检测元件对应的标准元件；得到N组标准电子设备电路板上标准元件的标准温升曲线；以及一组待测电子设备电路板上待检测元件的实际温升曲线；对温升曲线依次进行起点校正、阶跃校正，得到标准元件的标准参考温升曲线；确定热像异常门限；计算待检测元件的相似性度量因数，若相似性度量因数大于热像异常门限，则待检测元件正常，否则待检测元件异常；能够提高电子设备电路板上元件故障检测的实时性。
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公开(公告)号：CN111812606B
公开(公告)日：2023-12-22
申请号：CN202010495880.X
申请日：2020-06-03
Applicant: 西安电子科技大学
IPC: G01S7/41 , G01F23/284
Abstract: 本发明公开了一种基于导波雷达的物位提取方法，包括：利用导波雷达物位计采集不同距离的完整回波信号并记录实际物位距离，并将所述回波信号通过低通滤波器进行滤波；将所述滤波后回波信号的顶部回波点作为参考点，对齐不同距离下的回波信号的参考点；进行回波峰值寻找，找出滤波后回波信号中所有波峰值和波谷值；在波峰值点中找到理想回波点，得到理想回波点对应的距离；通过三次样条插值方式进行距离插值计算，得到不同距离对应的回波点，以及对应的距离；将插值计算得到物位距离与实际物位距离对比，获得所述物位提取方法的误差值。该物位提取方法比传统的峰值寻找算法性能更佳，误差更小。
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