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公开(公告)号：CN117848522A
公开(公告)日：2024-04-09
申请号：CN202410036857.2
申请日：2024-01-10
Applicant: 西安电子科技大学
IPC: G01J5/80
Abstract: 本发明公开了一种基于数据域与亮温域结合的微波辐射计射频干扰抑制方法，主要解决现有技术在原始可见度数据域抑制时因出现异常亮温点而导致成像性能恶化的问题。其实现方案是：通过复相关获取可见度数据，并根据选取的优化模型求取优化权向量；将可见度数据与优化权向量加权求和，得到一次抑制后的亮温估计图像；在亮温估计图像中寻找峰值点，并通过图像阈值判断其是否为亮温异常点，如果是，则对该点的亮温进行抑制，直到低于亮温异常点阈值，更新亮温估计图像；重复寻找图像峰值点，直到整个亮温估计图像低于图像阈值，完成对微波辐射计射频干扰的抑制。本发明清除了零陷区域附近异常亮温点，提高了成像质量，可用于综合孔径被动微波辐射测量。
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公开(公告)号：CN117572362A
公开(公告)日：2024-02-20
申请号：CN202311483452.5
申请日：2023-11-09
Applicant: 西安电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于基追踪去噪算法的SAIR射频干扰源稀疏估计方法，主要解决现有技术在低信噪比、单快拍条件下定位性能差、成像性能恶化和在受未知RFI个数以及环境因素影响较大的问题。本发明实现的技术方案是：天线稀疏阵列相关干涉获取视场内辐射亮温分布空间频率域信息，即可见度函数；将射频干扰源看做待恢复信号，由于其所具有的空间稀疏特性，能够使用基追踪去噪算法进行稀疏重构，选择合适的正则化参数，完成RFI的稀疏估计，获取RFI定位信息。本发明能有效识别干扰个数，在单快拍、低信噪比条件下提高定位性能。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN117895245B
公开(公告)日：2024-07-19
申请号：CN202311845275.0
申请日：2023-12-29
Applicant: 西安电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于GA‑SQP算法的反射面天线设计方法，主要解决现有技术设计的反射面天线的波束效率不高，频带较窄的问题，其实现方案是：设计多波束双极化紧耦合馈源天线；设计反射面天线的反射面；利用遗传算法GA优化馈源阵列方向图，得到馈源阵列的幅相加权系数初始值；利用SQP算法进行局部搜索，搜索并优化馈源阵列的幅相加权系数初始值，得到馈源阵列的幅相加权系数的最终值；将得到的馈源阵列的幅相加权系数带入到反射面天线的馈源阵列天线中，完成整个反射面天线的设计。本发明增加了智能优化算法的普适性，提高了反射面天线的波束效率，显著减少了单波束馈源的数量，显著扩展频带宽度，可用于反射面天线的设计。
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公开(公告)号：CN117572360A
公开(公告)日：2024-02-20
申请号：CN202311482843.5
申请日：2023-11-09
Applicant: 西安电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于正交匹配追踪算法的SAIR射频干扰源稀疏估计方法。其实现方案是：通过结合天线稀疏阵列相关干涉对视场内辐射亮温分布空间频率域信息进行采样可见度函数；根据稀疏阵列排布的空间位置信息引入阵列流行矩阵的过完备表述；每次迭代，找出阵列流型矩阵与可见度数据剩余部分最相关的列，然后标记该列并剔除该列对于可见度的贡献，更新残差。当完成有限次迭代后，即可找出对阵列流型矩阵的线性组合中列的标记集合，最后利用该标记集，找到射频干扰源源实际位置。本发明能够提高在小样本、单快拍情况下超分辨的能力。
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公开(公告)号：CN118191441A
公开(公告)日：2024-06-14
申请号：CN202410480307.X
申请日：2024-04-22
Applicant: 西安电子科技大学
IPC: G01R29/10
Abstract: 本发明属于天线技术领域，特别涉及一种天线任意位置方向图转换方法。主要解决现有技术不易得到精度要求高的阵列天线单元中心方向图及测试成本高的问题。实现方案是：对待测天线进行模式滤波；将阵列天线置于滤波后的球面近场测试系统中，确定其在近场球面测试系统中的坐标和角度偏差转移矩阵，得到待测天线在测试中心球心处的相位方向图，并对其进行转换得到天线单元几何中心的相位方向图；对不同单元位置的相位中心进行精确反演，获取其相位中心；对几何中心的相位方向图进行转换，得到待测天线在测试中心为天线单元相位中心的相位方向图。本发明能增加任意位置相位方向图及相位中心准确性，提高测试效率，降低测试成本，可用于天线测试。
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公开(公告)号：CN117572361A
公开(公告)日：2024-02-20
申请号：CN202311483365.X
申请日：2023-11-09
Applicant: 西安电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于稀疏贝叶斯学习算法的SAIR射频干扰源稀疏估计方法，主要解决现有技术计算量大、RFI受单快拍、低信噪比和RFI数量等因素影响较大的问题。本发明实现的技术方案是：稀疏阵列两两之间进行干涉测量得到可见度数据，将综合孔径干涉测量复数模型转变为实数模型，计算亮温的均值和协方差的表达式；在满足迭代条件的情况下，更新超参数和噪声方差，最终得到亮温的估计结果，利用亮温的估计结果获取射频干扰源定位信息。本发明能有效识别干扰数量，降低RFI恢复效果差的概率，且在单快拍，低信噪比条件下也能够有效完成RFI参数估计，提高目标的定位精度。
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公开(公告)号：CN117895245A
公开(公告)日：2024-04-16
申请号：CN202311845275.0
申请日：2023-12-29
Applicant: 西安电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于GA‑SQP算法的反射面天线设计方法，主要解决现有技术设计的反射面天线的波束效率不高，频带较窄的问题，其实现方案是：设计多波束双极化紧耦合馈源天线；设计反射面天线的反射面；利用遗传算法GA优化馈源阵列方向图，得到馈源阵列的幅相加权系数初始值；利用SQP算法进行局部搜索，搜索并优化馈源阵列的幅相加权系数初始值，得到馈源阵列的幅相加权系数的最终值；将得到的馈源阵列的幅相加权系数带入到反射面天线的馈源阵列天线中，完成整个反射面天线的设计。本发明增加了智能优化算法的普适性，提高了反射面天线的波束效率，显著减少了单波束馈源的数量，显著扩展频带宽度，可用于反射面天线的设计。
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