基于共振线扫描荧光相关光谱的微粒扩散测量系统和方法

    公开(公告)号:CN117214051A

    公开(公告)日:2023-12-12

    申请号:CN202311238890.5

    申请日:2023-09-22

    Abstract: 本发明公开了一种基于共振线扫描荧光相关光谱的微粒扩散测量系统和方法,该系统包括数据采集模块和分析计算模块,其中,数据采集模块用于利用激光对待测动态样品进行连续线扫描并成像,采集待测动态样品不同时刻的连续荧光图像;分析计算模块用于根据不同时刻的连续荧光图像获得荧光强度‑时间轨迹,根据自相关函数方程获得荧光强度‑时间轨迹的自相关曲线,随后根据自相关曲线定量检测动态样品中微粒的扩散系数。本发明通过共振扫描振镜控制激光重复扫描样品,有效提高了线扫描荧光相关光谱的速度,实现对快速动态过程的测量;通过计算荧光强度‑时间轨迹的自相关曲线,定量拟合出样品微粒的扩散系数,有利于实时测量动态样品的扩散运动。

    基于单色宽展结构光照明的光切片显微成像装置及方法

    公开(公告)号:CN117110285A

    公开(公告)日:2023-11-24

    申请号:CN202311009650.8

    申请日:2023-08-10

    Abstract: 本发明公开了一种基于单色宽展结构光照明的光切片显微成像装置和方法,所述装置包括单色宽展光照明产生模块、光束调制模块、成像模块和图像处理模块,其中,单色宽展光产生模块用于产生具有一定角度分布的单色扩展照明光;光束调制模块用于进行光调制,产生具有不同相位的条纹结构光;成像模块用于记录样品不同轴向位置在不同相移量条纹结构光照明下的强度图像;图像处理模块用于根据每一轴向位置记录的多幅强度图像获得当前轴向位置的光切片图像,并根据不同轴向位置的光切片图像重建样品的三维图像。本发明利用不同相移量的条纹结构光对样品逐层照明成像,并利用相移算法获得每个厚度位置的光切片图,能够实现对厚样品的三维层析成像。

    一种基于部分相干光照明的定量相衬显微成像装置

    公开(公告)号:CN116300364A

    公开(公告)日:2023-06-23

    申请号:CN202310107904.3

    申请日:2023-02-13

    Abstract: 本发明公开了一种基于部分相干光照明的定量相衬显微成像装置,包括沿光路方向依次设置的部分相干照明模块、显微成像系统、频谱调制模块和图像采集模块,其中,部分相干照明模块用于产生部分相干光以作为照明光;显微成像系统用于利用部分相干光获取样品的散射信号并对散射信号进行放大,获得具有样品信息的光场分布;频谱调制模块用于对来自显微成像系统的入射光频谱分别进行零频分量和高频分量的调制;图像采集模块用于采集经过频谱调制模块调制的零频分量和高频分量干涉所产生的全息图。本发明利用空间光调制器对物光的零频分量引入不同相位值来实现相移,记录物光零频分量和高频分量之间的相移相衬图样,最终可以再现出样品定量的相位分布。

    基于深度学习的荧光与相位双模式显微成像装置

    公开(公告)号:CN117872574A

    公开(公告)日:2024-04-12

    申请号:CN202410040649.X

    申请日:2024-01-10

    Abstract: 本发明公开了一种基于深度学习的荧光与相位双模式显微成像装置,包括超分辨荧光显微模块、定量相位显微模块以及图像处理模块,超分辨荧光显微模块获得不同相位条纹结构光照明下的多个单层光切片图,定量相位显微模块获得不同相位调制下样品的多个透射强度图像,图像处理模块用于根据多个单层光切片图重构样品的超分辨荧光图像,根据多个透射强度图像重构样品的定量相位图像,利用样品特定厚度位置的定量相位图像获得样品当前位置的超分辨荧光图像。本发明将超分辨荧光显微和定量相位显微模式集成到同一系统中,可以同时得到样品的荧光与相位图像,为样品提供多维信息;可以从单张相位图像中获得对应的荧光图像,识别并分割样品的多种亚细胞结构。

    基于共振扫描稀疏结构光照明的层析显微成像装置及方法

    公开(公告)号:CN115839935A

    公开(公告)日:2023-03-24

    申请号:CN202211537544.2

    申请日:2022-12-02

    Abstract: 本发明公开了一种基于共振扫描稀疏结构光照明的层析显微成像装置和方法,所述装置包括照明单元、扫描单元、显微成像单元和采集重构控制单元:照明单元在采集重构控制单元产生的控制信号的控制下产生光强随空间位置变化的照明光;扫描单元利用采集重构控制单元产生的控制信号,通过焦点扫描完成稀疏扫描条纹结构光的产生与相移;显微成像单元利用采集重构控制单元产生的控制信号,采集样品不同轴向切片在不同相位的稀疏扫描条纹结构光照射下的强度图像;采集重构控制单元还用于对获得的样品图像堆栈进行重构处理,获取样品的三维层析显微图像。本发明采用不同相位的稀疏扫描条纹结构光对同一样品进行扫描成像,可实现对厚样品的三维层析成像。

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