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公开(公告)号：CN112104416A
公开(公告)日：2020-12-18
申请号：CN201910519584.6
申请日：2019-06-17
Applicant: 西安电子科技大学
IPC: H04B10/079
Abstract: 本发明公开了一种基于双平行马赫增德尔调制器的到达角无模糊测量方法，该发明涉及微波光子技术领域。所述方法如说明书附图1所示，包括激光二极管LD，双平行马赫曾德尔调制器DPMZM，密集型波分复用器DWDM，光功率计。本发明将天线接收的射频信号分别调制在DPMZM的上下子调制器上，子调制器都工作在最小点进行抑制载波双边带调制，通过控制主调制器偏压在上下子调制器之间引入相位差，DPMZM输出信号经DWDM分离上下边带，由光功率计测量每路功率，构建两条不同的功率相位映射曲线，无模糊映射出信号在两天线端的相位差，实现到达角无模糊测量。此方案只使用一个DPMZM和一个DWDM，结构简单紧凑，无测量模糊，可以在很大的范围内测量到达角并保持很小的误差。
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公开(公告)号：CN112104416B
公开(公告)日：2021-06-01
申请号：CN201910519584.6
申请日：2019-06-17
Applicant: 西安电子科技大学
IPC: H04B10/079
Abstract: 本发明公开了一种基于双平行马赫增德尔调制器的到达角无模糊测量方法，该发明涉及微波光子技术领域。所述方法如说明书附图1所示，包括激光二极管LD，双平行马赫曾德尔调制器DPMZM，密集型波分复用器DWDM，光功率计。本发明将天线接收的射频信号分别调制在DPMZM的上下子调制器上，子调制器都工作在最小点进行抑制载波双边带调制，通过控制主调制器偏压在上下子调制器之间引入相位差，DPMZM输出信号经DWDM分离上下边带，由光功率计测量每路功率，构建两条不同的功率相位映射曲线，无模糊映射出信号在两天线端的相位差，实现到达角无模糊测量。此方案只使用一个DPMZM和一个DWDM，结构简单紧凑，无测量模糊，可以在很大的范围内测量到达角并保持很小的误差。
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公开(公告)号：CN112698091A
公开(公告)日：2021-04-23
申请号：CN201911009020.4
申请日：2019-10-23
Applicant: 西安电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于级联调制器的无模糊微波光子多普勒频移测量方法，该发明涉及微波光子技术领域。所述方法如说明书附图1所示，包括激光器LD，双偏振马赫增德尔调制器Dpol‑MZM，相位调制器PM，起偏器Pol，掺铒光纤放大器EDFA，密集型波分复用器DWDM，光电检测器PD。本发明将低频参考信号和回波信号分别调制在Dpol‑MZM的上下子调制器MZMx和MZMy上，MZMx工作在正交点进行单边带调制SSB，MZMy工作在最小点进行抑制载波的双边带调制CS‑DSB，Dpol‑MZM输出信号的X轴对准PM的主轴后对发射信号进行相位调制，PM输出经过起偏器Pol，EDFA，DWDM得到期望的正一阶边带信号，送入PD进行拍频，结果通过低频电谱仪ESA检测，能够同时测量多普勒频移的值和方向而不受信号相位影响。
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公开(公告)号：CN112698091B
公开(公告)日：2022-04-19
申请号：CN201911009020.4
申请日：2019-10-23
Applicant: 西安电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于级联调制器的无模糊微波光子多普勒频移测量方法，该发明涉及微波光子技术领域。所述方法如说明书附图1所示，包括激光器LD，双偏振马赫增德尔调制器Dpol‑MZM，相位调制器PM，起偏器Pol，掺铒光纤放大器EDFA，光学带通滤波器滤波OBPF，光电检测器PD。本发明将低频参考信号和回波信号分别调制在Dpol‑MZM的上下子调制器MZMx和MZMy上，MZMx工作在正交点进行单边带调制SSB，MZMy工作在最小点进行抑制载波的双边带调制CS‑DSB，Dpol‑MZM输出信号的X轴对准PM的主轴后对发射信号进行相位调制，PM输出经过起偏器Pol，EDFA，OBPF得到期望的正一阶边带信号，送入PD进行拍频，结果通过低频电谱仪ESA检测，能够同时测量多普勒频移的值和方向而不受信号相位影响。
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