公开(公告)号：CN119194323A

公开(公告)日：2024-12-27

申请号：CN202411167385.0

申请日：2024-08-23

Applicant: 西安理工大学

Inventor： 邓博 ,  安勋勋 ,  张静 ,  王雷 ,  卢正欣

IPC: C22F3/00 ,  C22F1/00 ,  C22C30/00

Abstract: 本发明公开提高共晶高熵合金耐腐蚀性的表面处理方法，采用以下处理工艺：对铸态的共晶高熵合金基体进行预处理→前处理→超声冲击n个道次→后处理。该方法能够在保持材料表面强化层拥有细晶组织的同时可部分消除因超声冲击处理所产生的位错及残余应力，提高样品表面的耐蚀性。还提供采用上述方法制备得到的表面强化处理的共晶高熵合金。

公开(公告)号：CN113804707B

公开(公告)日：2023-07-14

申请号：CN202110993349.X

申请日：2021-08-27

Applicant: 西安理工大学

Inventor： 邓博 ,  雷黎 ,  张静 ,  赵高扬 ,  游才印

IPC: G01N23/04 ,  G01N23/2202 ,  G01N23/2251

Abstract: 本发明公开的一种薄膜支撑制备高密度粉末颗粒透射电子显微镜样品的方法，包括以下步骤：步骤(1)、将粉末样品与酒精、水或者丙酮溶剂混合；步骤(2)、用滴管将分散好的粉末样品混合悬液滴于具有足够平整度的基底上；步骤(3)、环氧树脂排干水分及空气；步骤(4)、薄膜支撑粉末颗粒膜层制备；步骤(5)、将步骤(4)得到的环氧树脂膜支撑的样品在室温下负压条件下固化；步骤(6)、固化后样品表面喷金；步骤(7)、FIB加工步骤(6)得到的样品；步骤(8)、采用等离子体清洗样品表面去除FIB加工过程中掉落的样品和环氧树脂屑。该方法用于离子减薄或FIB粉末样品的加工，可以提升样品加工的准确度和成功率。

公开(公告)号：CN107904602A

公开(公告)日：2018-04-13

申请号：CN201710954799.1

申请日：2017-10-13

Applicant: 西安理工大学

Inventor： 冯拉俊 ,  邓博 ,  沈文宁

IPC: C23F13/16

Abstract: 本发明公开了一种防止杂散电流腐蚀地下管线的装置，包括导流极，导流极设置在屏蔽环内，且导流极的两端焊接在屏蔽环上，屏蔽环通过导线连接有牺牲阳极。采用旁路电极的方法平衡排入地下的电流，使杂散电流优先流过导流极，而不会流入地下管线中，有效的防止了杂散电流对地下管线的腐蚀。

公开(公告)号：CN107904602B

公开(公告)日：2019-09-27

申请号：CN201710954799.1

申请日：2017-10-13

Applicant: 西安理工大学

Inventor： 冯拉俊 ,  邓博 ,  沈文宁

IPC: C23F13/16

Abstract: 本发明公开了一种防止杂散电流腐蚀地下管线的装置，包括导流极，导流极设置在屏蔽环内，且导流极的两端焊接在屏蔽环上，屏蔽环通过导线连接有牺牲阳极。采用旁路电极的方法平衡排入地下的电流，使杂散电流优先流过导流极，而不会流入地下管线中，有效的防止了杂散电流对地下管线的腐蚀。

公开(公告)号：CN113804707A

公开(公告)日：2021-12-17

申请号：CN202110993349.X

申请日：2021-08-27

Applicant: 西安理工大学

Inventor： 邓博 ,  雷黎 ,  张静 ,  赵高扬 ,  游才印

IPC: G01N23/04 ,  G01N23/2202 ,  G01N23/2251

Abstract: 本发明公开的一种薄膜支撑制备高密度粉末颗粒透射电子显微镜样品的方法，包括以下步骤：步骤(1)、将粉末样品与酒精、水或者丙酮溶剂混合；步骤(2)、用滴管将分散好的粉末样品混合悬液滴于具有足够平整度的基底上；步骤(3)、环氧树脂排干水分及空气；步骤(4)、薄膜支撑粉末颗粒膜层制备；步骤(5)、将步骤(4)得到的环氧树脂膜支撑的样品在室温下负压条件下固化；步骤(6)、固化后样品表面喷金；步骤(7)、FIB加工步骤(6)得到的样品；步骤(8)、采用等离子体清洗样品表面去除FIB加工过程中掉落的样品和环氧树脂屑。该方法用于离子减薄或FIB粉末样品的加工，可以提升样品加工的准确度和成功率。