空气等离子体闪光持续时间的确定方法及装置

    公开(公告)号:CN116818285B

    公开(公告)日:2024-04-26

    申请号:CN202310801959.4

    申请日:2023-06-30

    Abstract: 本发明涉及空气等离子体闪光持续时间的确定方法及装置,该方法包括:建立计算激光诱导薄膜表面空气等离子体闪光持续时间tc的模型,通过测量空气等离子体爆轰波在薄膜表面上产生的压强,获得激光诱导薄膜表面空气等离子体闪光持续时间tc;本发明装置包括气压计、刀口式光斑分析仪和操作控制台,以及沿光路依次设置的激光器、衰减器、聚焦系统、分束器和样片台,薄膜固定在样片台上,在薄膜的表面边缘布设压力传感器。本发明方法和装置可以准确地确定空气等离子体闪光持续时间,对激光诱导薄膜击穿过程中的空气等离子体闪光研究,具有重要意义。

    兼容电磁屏蔽红外增透薄膜器件的制备方法

    公开(公告)号:CN113504588A

    公开(公告)日:2021-10-15

    申请号:CN202110763474.1

    申请日:2021-07-06

    Abstract: 本发明涉及兼容电磁屏蔽红外增透薄膜器件的制备方法,该器件是将介质薄膜作为红外增透层与石墨烯薄膜组合,构建三明治结构的红外增透薄膜器件;利用石墨烯网栅叠加红外增透薄膜的方法实现兼容电磁屏蔽红外增透薄膜器件的制备。对其透明电磁屏蔽性能进行测试分析,本发明薄膜器件保持了红外增透膜的高透过率,同时具备良好的电磁屏蔽性能,能够解决现有装备窗口不能同时满足红外增透和电磁屏蔽的问题,研究成果可广泛的应用于各类装备窗口表面并为新型多功能复合薄膜的应用奠定技术基础。

    一种含能纳米复合桥膜及其制备方法

    公开(公告)号:CN116855908A

    公开(公告)日:2023-10-10

    申请号:CN202310839447.7

    申请日:2023-07-10

    Abstract: 本发明属于火工品技术领域,公开一种含能纳米复合桥膜及其制备方法,所述含能纳米复合桥膜包括基底,以及所述基底上依次叠层设置的介质绝缘层和桥区电热膜;所述桥区电热膜上设置有复合膜层,所述复合膜层包括Al膜和CuO膜,且所述Al膜和CuO膜呈横向交替排列;且所述桥区电热膜两侧均设置有电极层,且所述电极层的下端与所述介质绝缘层相接触;其中,所述桥区电热膜两侧均以Al膜与所述电极层接触。本发明通过沿着基底表面以横向周期结构分布的Al/CuO含能材料构成纳米复合薄膜,该结构的纳米复合薄膜具有较高的放热能量和理想的速燃特性,可广泛用于点火器、电子开关、触发器、引燃剂等方面。

    基于等离子体点燃时间判别薄膜损伤的方法

    公开(公告)号:CN109682795B

    公开(公告)日:2023-09-22

    申请号:CN201811022571.X

    申请日:2018-09-03

    Abstract: 本发明公开了一种基于等离子体点燃时间判别薄膜损伤的方法及装置。解决了等离子体闪光法对薄膜损伤识别的误判问题,技术方案是:用至少三个探测器分别获取空气和薄膜等离子体闪光信号及入射激光信号,以后者为基准,得到空气和薄膜等离子体闪光点燃时间,准确分辨出空气和薄膜等离子体闪光,消除误判。实现步骤是分别采集基准和闪光信号;获取基准和闪光信号起始时刻;以基准和闪光信号起始时刻之差作为闪光点燃时间;建模计算闪光点燃时间;比较并得出损伤识别判据。本发明建立的点燃时间计算模型,可针对任意单层薄膜;装置结构简单,测量精度达0.1ns,能准确进行薄膜损伤识别,可靠性好。本发明应用于强激光作用下的光学薄膜损伤判别。

    应用于电磁屏蔽的具有几何拓扑的频率选择表面结构

    公开(公告)号:CN110418563B

    公开(公告)日:2023-06-16

    申请号:CN201910665103.2

    申请日:2019-07-23

    Abstract: 本发明公开了一种应用于电磁屏蔽的几何拓扑结构,为了解决现有红外透过率一定时,屏蔽效能低的问题。提出了该结构的红外透过率模型,推导出了理论公式。该结构是十字形结构和圆环形结构相结合,主要由多个相同拓扑单元结构阵列组成的频率选择表面,可提高传统十字形结构屏蔽效能。当电磁波垂直入射于本发明所提出的拓扑结构时,对于1GHz到18GHz频段的电磁波会有较高的屏蔽特性,同时红外透过率高于90%。

    一种石墨烯网栅薄膜的制备方法

    公开(公告)号:CN109384218B

    公开(公告)日:2020-11-10

    申请号:CN201811518846.9

    申请日:2018-12-12

    Abstract: 本发明涉及一种石墨烯网栅薄膜的制备方法,该方法的主要思路是在石墨烯薄膜制备过程中,将旋涂有PMMA保护层的石墨烯薄膜吸附于具有光刻胶图案的石英板上,之后去除光刻胶图案及其表面的石墨烯薄膜得到石墨烯网栅薄膜。该方法制备的石墨烯网栅薄膜为准单层石墨烯结构,在网栅交织区域厚度均匀统一,保持了与未图形化制备的石墨烯薄膜相同的属性,同时解决石墨烯导电薄膜不易制备成矩阵结构的问题,简单易行。

    一种基于偏振参数识别光学薄膜激光损伤的方法和装置

    公开(公告)号:CN111474182A

    公开(公告)日:2020-07-31

    申请号:CN202010338387.7

    申请日:2020-04-26

    Abstract: 本发明涉及一种基于偏振参数识别光学薄膜激光损伤的方法和装置,其克服了现有技术中判别薄膜是否发生损伤,常常会造成“误判”现象,适用于激光损伤阈值测量中各类光学元件及镀膜元件表面损伤的在线判别,具有快速、准确的特点。本发明采用的技术方案如下:包括用于安装薄膜测试样品的二维工作台,二维工作台两侧分别设置有入射光路和反射光路,入射光路一侧依次设置有光源、滤光片、平行光管和起偏器,反射光路一侧依次设置有波片、检偏器和光电接收器,高能激光器的激光发射端正对薄膜测试样品表面,在高能激光器的激光脉冲输出方向依次设置有衰减器和会聚透镜,其中二维工作台、波片、检偏器、高能激光器、接收器和衰减器均连接至工业控制计算机。

    薄膜等离子体闪光持续时间的确定方法及装置

    公开(公告)号:CN116839870B

    公开(公告)日:2024-04-26

    申请号:CN202310789813.2

    申请日:2023-06-30

    Abstract: 本发明涉及薄膜等离子体闪光持续时间的确定方法及装置,该方法通过持续测量薄膜表面等离子体冲击波压强ps随时间的变化,获得薄膜表面等离子体冲击波速度vs随时间的变化,vs由最大值降为零所需的时间,即为薄膜等离子体闪光持续时间。本发明装置包括气压计、声速测量计和操作控制台,以及沿光路依次设置的激光器、衰减器、聚焦系统、分束器和样片台,待测薄膜固定在样片台上,在待测薄膜的表面边缘布设压力传感器。本发明方法和装置可以有效地确定薄膜等离子体闪光持续时间,为提高薄膜元件激光防护性能提供有力的支持。

    兼容电磁屏蔽红外增透薄膜器件的制备方法

    公开(公告)号:CN113504588B

    公开(公告)日:2022-09-13

    申请号:CN202110763474.1

    申请日:2021-07-06

    Abstract: 本发明涉及兼容电磁屏蔽红外增透薄膜器件的制备方法,该器件是将介质薄膜作为红外增透层与石墨烯薄膜组合,构建三明治结构的红外增透薄膜器件;利用石墨烯网栅叠加红外增透薄膜的方法实现兼容电磁屏蔽红外增透薄膜器件的制备。对其透明电磁屏蔽性能进行测试分析,本发明薄膜器件保持了红外增透膜的高透过率,同时具备良好的电磁屏蔽性能,能够解决现有装备窗口不能同时满足红外增透和电磁屏蔽的问题,研究成果可广泛的应用于各类装备窗口表面并为新型多功能复合薄膜的应用奠定技术基础。

    一种扩束准直光束的自动调校方法

    公开(公告)号:CN108563027B

    公开(公告)日:2020-11-10

    申请号:CN201810072140.8

    申请日:2018-01-25

    Abstract: 本发明涉及光学检测技术领域,具体涉及一种扩束准直光束的自动调校方法。本发明利用接收图像的优化方法和电控平台的自动控制,实现了扩束准直系统自动化调校,调校精度较高。本发明方法为:激光器发出的激光束通过扩束镜、滤波装置以及准直镜后出射的光波为准平面光波,用带有镜头的CCD相机接收出射的光波,对接收的光波编程优化处理,结果反馈三维电控平移台,调整三维电控平移台,使激光束通过扩束镜、滤波装置以及准直镜的同轴输出,实现激光光波的大口径均匀输出,再用迈克耳孙干涉装置产生等厚干涉条纹,CCD相机接收其编程优化处理,结果反馈三维电控平移台,调整三维电控平移台,实现扩束镜、滤波装置以及准直镜的准直光束的准直输出。

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